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专利号: 201710350342X
申请人: 西安工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种抗电路参数漂移的高精度电阻测量方法,其特征在于:在电桥电路中,给待测电阻所在的支路上分别接入三个精确标定阻值已知的低温飘精密电阻,对接入三个低温飘精密电阻的电桥电路输出值分别进行测量,根据三组测量值和三个低温飘精密的电阻值计算电桥电路的参数,最后接入待测电阻,通过电路参数和待测电阻的测量数据计算出待测电阻的实际阻值。

2.根据权利要求1所述的抗电路参数漂移的高精度电阻测量方法,其特征在于:所述的测量方法所依托的测量电路包括一个电桥电路,电桥电路的四个桥臂上分别连接固定电阻R1,固定电阻R2,固定电阻R3和待测电阻Rt;所述电桥电路的一个对角外接电源,另一个对角接放大器;待测电阻Rt所在的桥臂支路上经过多路切换选择电路SW分别接低温飘精密电阻Rf1、低温飘精密电阻Rf2和低温飘精密电阻Rf3和待测电阻Rt。