1.一种用于BOPP薄膜生产的薄膜厚度监测方法，其包括如下步骤：

a)获取从薄膜测厚仪输出的薄膜剖面图像资料；

b)根据所述剖面图像资料获取所述图像中原膜厚曲线的基准厚度值、坐标刻度值、厚度平均值；

c)根据所述剖面图像资料生成一条连续完整且无交叉的膜厚曲线，并在所获取的所述基准厚度值、坐标刻度值、厚度平均值的基础上，计算所述生成膜厚曲线上每个点所对应的厚度值；

d)根据预设的输出格式，将所获取的各点厚度值输出或在显示器上显示，并在厚度值超出预置的范围时发出警示。

2.根据权利要求1所述的用于BOPP薄膜生产的薄膜厚度监测方法，其特征在于：所述步骤b)中包括第一预处理步骤，所述第一预处理步骤根据所述薄膜剖面图像资料中的颜色特征及区域特征获取含有目标字符的第一ROI区域；所述步骤c)中包括第二预处理步骤，所述第二预处理步骤根据所述薄膜剖面图像资料中的颜色特征及区域特征获取含有目标原始膜厚曲线的第二ROI区域。

3.根据权利要求2所述的用于BOPP薄膜生产的薄膜厚度监测方法，其特征在于：所述步骤b)还包括以下步骤：b1)根据第一ROI区域内可能出现的字符分析构建字符的二值化特征模板库；

b2)针对所获取的第一ROI区域，检测分离出单个字符，对每个字符进行特征提取后进行模板匹配，识别出单个字符；

b3)将相邻单字符进行组合，对组合出的词组进行辨识，获取所述图像中原膜厚曲线的基准厚度值、坐标刻度值、厚度平均值。

4.根据权利要求2所述的用于BOPP薄膜生产的薄膜厚度监测方法，其特征在于：所述步骤c)针对所获取的第二ROI区域进行处理，所述处理还包括以下步骤：c1)对目标图像进行灰度化和滤波处理；

c2)根据颜色分量和坐标特征获取非连续膜厚曲线图像g1和辅助点阵图像g2；

c3)对两幅图像g1和g2，分别进行Otsu阈值分割和双阈值分割后得到二值化图像g1′和g2′；

c4)将g1′和g2′二者相合并生成一条连续完整且无交叉的膜厚曲线图像g；

c5)根据所获取的所述基准厚度值、坐标刻度值、厚度平均值，对所生成膜厚曲线上每个点，将其在图像中的像素坐标变换为所对应的厚度值。

5.根据权利要求1所述的用于BOPP薄膜生产的薄膜厚度监测方法，其特征在于：采用VGA2USB转换器获取从薄膜测厚仪输出的VGA信号获得所述薄膜剖面图像资料；所述薄膜剖面图像资料，是以所述薄膜测厚仪输出并能显示在一显示器上的用以显示被检测薄膜的横向剖面厚度的图像，所述图像包括分别以不同颜色表示的一条膜厚曲线、坐标轴和与坐标轴平行的辅助线，以及用以标示所述膜厚曲线基准厚度值、坐标刻度值、厚度平均值的字符。

6.根据权利要求5所述的用于BOPP薄膜生产的薄膜厚度监测方法，其特征在于：所述VGA2USB转换器从VGA信号分配器获取VGA信号，所述VGA信号分配器从薄膜测厚仪接收VGA信号并将信号分配给显示器和所述VGA2USB转换器。