1.一种有限区域内测量粗糙表面反射率的方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)在目标区域表面正上方设置太阳辐射仪，太阳辐射仪上的日照探射器朝下时与目标区域中心表面的垂直距离H至少为0.4m；

2)太阳辐射仪接收入射太阳辐射It和反射太阳辐射Rt，所述太阳辐射仪在接收反射太阳辐射Rt时，太阳辐射仪的日照探射器外周设置有圆环形的遮光罩；

3)在目标区域的表面覆盖一张具有非选择性光谱且已知反射率的参照板，并记录此时入射太阳辐射Ir和反射太阳辐射Rr；

4)计算目标区域反射率ρt， 其中，ρr为参照板的反射率，

ρ2遮光罩内表面反射率，ρs周围环境介质反射率，F2→s表示周围环境介质到遮光罩内表面的视角因子，F1→2表示遮光罩内表面到日照探射器的视角因子。

2.如权利要求1所述的有限区域内测量粗糙表面反射率的方法，其特征在于，所述太阳辐射仪包括两个日照探射器，其中一个日照探射器朝上设置，另一个日照探射器朝下设置，两个日照探射器在同一时刻分别接收当前的入射太阳辐射和反射太阳辐射。

3.如权利要求2所述的有限区域内测量粗糙表面反射率的方法，其特征在于，所述太阳辐射仪的型号为Kipp&Zonen CMA11。

4.如权利要求1所述的有限区域内测量粗糙表面反射率的方法，其特征在于，太阳辐射仪上的日照探射器朝下时与目标区域中心表面的垂直距离H为0.4～1m。

5.如权利要求1所述的有限区域内测量粗糙表面反射率的方法，其特征在于，当所述遮光罩内表面由逆反射材料制成时，

6.如权利要求1所述的有限区域内测量粗糙表面反射率的方法，其特征在于，当视角因子为0.5时，所述遮光罩的高度h设置为： 式中R1，R2，Rc和H分别是日照探射器的半径、日照探射器在目标区域上投影面积的半径、遮光罩的内半径和日照探射器与目标区域中心表面的垂直距离。

7.如权利要求1所述的有限区域内测量粗糙表面反射率的方法，其特征在于，所述遮光罩的底端水平向中心延伸形成一环形的遮光板，所述遮光板与所述日照探射器的底端在同一水平面，且所述遮光板的内环直径与所述日照探射器的直径相等；所述遮光罩的内壁面以及所述遮光板朝向日照探射器的面均涂覆有黑色涂料。

8.一种用于测量粗糙表面反射率的装置，其特征在于，包括：

太阳辐射仪，所述太阳辐射仪的日照探射器上设置有可拆卸的遮光罩；以及参照板，其具有非选择性光谱且已知反射率。

9.如权利要求8所述的用于测量粗糙表面反射率的装置，其特征在于，所述太阳辐射仪上设置有两个日照探射器，其中一个日照探射器朝上设置，另一个日照探射器朝下设置；朝下的日照探射器上设置有可拆卸的遮光罩。

10.如权利要求9所述的用于测量粗糙表面反射率的装置，其特征在于，所述太阳辐射仪的型号为Kipp&Zonen CMA11。