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专利号: 2017105234911
申请人: 江西科技师范大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 基本电气元件
更新日期:2023-12-11
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种高导电性二硫化钼纳米薄膜,其特征在于,所述高导电性二硫化钼纳米薄膜由二硫化钼及氯化铜构成,所述氯化铜与二硫化钼的摩尔比为0.01-0.77:1;

所述高导电性二硫化钼纳米薄膜的制备方法包括以下步骤:步骤1:制备二硫化钼溶液,利用锂离子嵌入的方法制备单层二硫化钼,得到带有负电的二硫化钼溶液;

步骤2:取步骤1所制备的二硫化钼溶液,稀释至一定浓度,真空抽滤成膜;

步骤3:当膜表面没有二硫化钼溶液时,立即继续加入氯化铜溶液,利用剥离后的二硫化钼带负电、带有缺陷的特性,吸附铜离子,缓慢抽滤;

步骤4:将抽干的薄膜取下,用去离子水冲洗,放入烘箱真空干燥;

所述步骤1中,二硫化钼溶液的制备方法,包括:步骤11:采用有机溶剂溶解二硫化钼,密封,抽真空;

步骤12:向步骤11中加入保护气体,加入正丁基锂反应48h、离心处理;

步骤13:真空干燥步骤12所得样品,配制一定浓度的溶液超声处理;

步骤14:离心,取上层溶液,测定浓度备用。

2.根据权利要求1所述的高导电性二硫化钼纳米薄膜,其特征在于,所述氯化铜与二硫化钼的摩尔比0.01-0.1:1。

3.根据权利要求1所述的高导电性二硫化钼纳米薄膜,其特征在于,所述纳米薄膜的电导率为60-101S/cm。

4.权利要求1-3任一所述的高导电性二硫化钼纳米薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:制备二硫化钼溶液;

步骤2:取步骤1所制备的二硫化钼溶液,稀释至一定浓度,真空抽滤成膜;

步骤3:当膜表面没有二硫化钼溶液时,立即继续加入氯化铜溶液,缓慢抽滤;

步骤4:将抽干的薄膜取下,用去离子水冲洗,放入烘箱真空干燥;

所述步骤1中,二硫化钼溶液的制备方法,包括:步骤11:采用有机溶剂溶解二硫化钼,密封,抽真空;

步骤12:向步骤11中加入保护气体,加入正丁基锂反应48h,离心处理得到Li-MoS2;

步骤13:真空干燥步骤12所得样品,配成一定浓度的溶液超声处理;

步骤14:离心,取上层溶液,测定浓度备用。

5.根据权利要求4所述的高导电性二硫化钼纳米薄膜的制备方法,其特征在于,所述步骤11中,有机溶剂为超干正己烷;所述有机溶剂与二硫化钼的质量比为3-15:0.1-1。

6.根据权利要求4所述的高导电性二硫化钼纳米薄膜的制备方法,其特征在于,所述步骤12中,保护气体为氮气,正丁基锂与二硫化钼的摩尔比为1:1.7-2.56,在3500rpm下离心

10min。

7.根据权利要求4所述的高导电性二硫化钼纳米薄膜的制备方法,其特征在于,所述步骤13中,配置溶液浓度为1.5mg/ml,超声处理的时间为1h;所述步骤14中,8000rpm条件下离心30min。

8.根据权利要求4所述的高导电性二硫化钼纳米薄膜的制备方法,其特征在于,所述步骤4中,干燥的温度为45-50℃。