1.一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，包括有支撑柱(1)、工作板(2)、放置装置(3)、固定装置(5)、感应器(7)和滚动轮(9)，工作板(2)顶部设置有通孔(6)，工作板(2)中部设置有第一凹槽(4)，第一凹槽(4)内设置有放置装置(3)，放置装置(3)底部左右对称式设置有滚动轮(9)，放置装置(3)后侧连接有固定装置(5)，固定装置(5)穿过通孔(6)，工作板(2)底部均匀设置有透气孔(8)，透气孔(8)位于第一凹槽(4)下方，透气孔(8)与第一凹槽(4)连通，工作板(2)底部左右对称式设置有第二凹槽(10)，第二凹槽(10)位于第一凹槽(4)下方，第二凹槽(10)位于透气孔(8)两侧，左侧的滚动轮(9)位于左侧的第二凹槽(10)内，右侧的滚动轮(9)位于右侧的第二凹槽(10)内，工作板(2)内左右两侧对称式设置有感应器(7)，感应器(7)位于第一凹槽(4)两侧，左侧的工作板(2)底壁左右两侧和前后两侧均对称式设置有支撑柱(1)。

2.根据权利要求1所述的一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，放置装置(3)包括有连接板(31)、凸起(32)和放置框(33)，第一凹槽(4)内设置有放置框(33)，放置框(33)前后两侧均连接有连接板(31)，前侧的连接板(31)的前侧设置有凸起(32)，凸起(32)位于第一凹槽(4)前侧。

3.根据权利要求2所述的一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，固定装置(5)包括有U形板(52)、压块(53)、升降杆(54)、卡块(55)、第一弹簧(56)和横杆(57)，后侧的连接板(31)后侧连接有U形板(52)，U形板(52)左右对称式设置有导向孔(51)，第一凹槽(4)内后侧均匀设置有第一弹簧(56)，第一弹簧(56)顶端设置有横杆(57)，横杆(57)顶部中间设置有升降杆(54)，升降杆(54)穿过通孔(6)，升降杆(54)顶端设置有压块(53)，压块(53)位于工作板(2)外方，横杆(57)顶部左右两侧对称式设置有卡块(55)，卡块(55)位于导向孔(51)内。

4.根据权利要求3所述的一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，测试台还包括有散热装置(11)，散热装置(11)包括有固定槽(111)、电机(112)、滑块(113)、风扇片(114)、连杆(115)、凸轮(116)、固定框(117)和滑轨(118)，工作板(2)底部设置有固定槽(111)，固定槽(111)位于透气孔(8)正下方，固定槽(111)内底部中间设置有电机(112)，电机(112)顶部连接有凸轮(116)，凸轮(116)顶部连接有连杆(115)，连杆(115)顶部左右两侧对称式设置有风扇片(114)，固定槽(111)内底部左右对称式设置有滑轨(118)，滑轨(118)上设置有滑块(113)，滑块(113)顶部之间连接有固定框(117)，凸轮(116)位于固定框(117)内，凸轮(116)与固定框(117)配合。

5.根据权利要求4所述的一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，测试台还包括有第二弹簧(14)、扇板(15)、摆杆(16)和条板(17)，固定槽(111)左右两壁均均匀设置有通风孔(12)，固定槽(111)左右两壁均均匀铰接连接有扇板(15)，扇板(15)位于通风孔(12)内，左侧的扇板(15)右侧和右侧的扇板(15)左侧均连接有摆杆(16)，扇板(15)底部与固定槽(111)内底部之间均连接有第二弹簧(14)，固定框(117)左右两侧均连接有条板(17)，条板(17)上均均匀设置有第三凹槽(13)，左侧的摆杆(16)位于左侧的第三凹槽(13)内，右侧的摆杆(16)位于右侧的第三凹槽(13)内。

6.根据权利要求5所述的一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，测试台还包括有第三弹簧(18)、移动块(19)、插杆(20)和移动槽(21)，第一凹槽(4)内后侧对称式设置有移动槽(21)，移动槽(21)位于升降杆(54)两侧，移动槽(21)内后侧设置有第三弹簧(18)，第三弹簧(18)前侧连接有移动块(19)，U形板(52)后侧对称式设置有插杆(20)，插杆(20)位于U形板(52)左右对称式设置的导向孔(51)之间，插杆(20)位于移动槽(21)前侧，插杆(20)与移动槽(21)配合。

7.根据权利要求6所述的一种存储卡集成电路测试用测试台，其特征在于，测试台还包括有转轴(22)、轴承座(23)、连接杆(24)和压板(25)，连接板(31)中部均设置有轴承座(23)，轴承座(23)上设置有转轴(22)，转轴(22)顶端设置有连接杆(24)，连接杆(24)末端设置有压板(25)。