1.一种光学测试系统，其特征是，包括底座(1)和依次固定在底座(1)上的通过同一束光线的光输入单元(2)、积分球(4)和反射率检测室(5)，所述光输入单元(2)包括光输入口(21)、依次位于光输入口(21)后的输入光调制器(22)、分光镜(23)和光输出口(25)，还包括用于探测分光镜(23)分出的光的输入光探测器(24)，所述积分球(4)设有输入孔(41)、输出孔Ⅰ(42)和输出孔Ⅱ(43)，所述输出孔Ⅱ(43)对应安装有输出光探测器(44)，所述反射率检测室(5)包括固定架(9)和覆盖在固定架(9)周边的遮光罩(10)，所述固定架(9)设置有用于固定样品支撑架(7)的固定槽(91)和用于光线穿过的光学窗(92)，所述样品支撑架(7)内设置待测品(6)，所述遮光罩(10)不遮挡光学窗(92)；样品支撑架(7)包括安置待测品(6)的安置杆，所述安置杆的底部固定有支撑并保持待测品(6)处于竖直位置的平板，平板的上端面为倾斜的平面，安置杆上固定有抵靠杆，抵靠杆和安置杆之间为待测品(6)，抵靠杆或安置杆的侧端还设置有放置在固定槽(91)内的支撑杆；

所述光输入单元(2)和积分球(4)之间还设置有透过率检测室(3)，所述透过率检测室(3)包括固定架(9)和覆盖在固定架(9)上的遮光罩(10)。

2.如权利要求1所述的光学测试系统，所述遮光罩(10)包括覆盖在固定架(9)的左、右和上方的三块平板，三块平板的端部覆盖有遮光板(51)。

3.如权利要求2所述的光学测试系统，其特征是，所述光学窗(92)的面积与遮光板(51 )相同，或者小于遮光板(51 )的面积。

4.如权利要求1-3任一项所述的光学测试系统，其特征是，所述固定架(9)和光学窗(92)采用同一种材料制成，所述材料为玻璃、石英或晶体硅。

5.如权利要求1-3任一项所述的光学测试系统，其特征是，所述固定架(9)和光学窗(92)采用不同材料制成，光学窗(92)的材料为石英，固定架(9)的材料为聚四氟乙烯。

6.如权利要求1-3任一项所述的光学测试系统，其特征是，所述遮光罩(10)边缘设置有遮光垫。

7.如权利要求1-3任一项所述的光学测试系统，其特征是，所述底座(1)下部固定有支撑脚(8)，所述支撑脚(8)高度可调节，且支撑脚(8)的数量至少有4个。

8.一种应用如权利要求1-7任意一项所述的光学测试系统的测试方法，其特征是，所述测试方法为测试待测样品的反射率，包括两个步骤，先进行背景测试，再进行样品测试：a.背景测试：将标准白板固定到样品支撑架(7)上，将样品支撑架(7)放入到固定架(9)中，将遮光罩(10)罩在固定架(9)外，组成反射率检测室(5)，输入光后，测量得到输出光探测器(44)接收到的光强Iout(λ)和经过分光镜(23)的输入光探测器(24)的反射光强Rsplt(λ)，计算得到参数c(λ)*s(λ)＝Iout(λ)/Rsplt(λ)；

b.样品测试：撤下标准白板，将待测样品固定到样品支撑架(7)上，将样品支撑架(7)放入到固定架(9)中，将遮光罩(10)罩在固定架(9)外，组成反射率检测室(5)；输入光后，测量得到输出光探测器(44)接收到的光强Ismpout(λ)和经过分光镜(23)的输入光探测器(24)的反射光强Rsmpsplt(λ)，计算得到待测样品的反射率rsmp(λ)＝Ismpout(λ)/(c(λ)*s(λ)*Rsmp splt(λ))。

9.一种应用如权利要求1所述的光学测试系统的测试方法，其特征是，还包括测试待测样品的透过率，包括两个步骤，先进行背景测试，再进行样品测试：a.背景测试：将标准白板固定到样品支撑架(7)上，将样品支撑架(7)放入到固定架(9)中，将遮光罩(10)罩在固定架(9)外，并安装遮光板(51)，组成反射率检测室(5)；将样品支撑架(7)放入到固定架(9)中，将遮光罩(10)罩在固定架(9)外，组成透过率检测室(3)；输入光后，测量得到输出光探测器(44)接收到的光强Iout(λ)和经过分光镜(23)的输入光探测器(24)的反射光强Rsplt(λ)，计算得到参数c(λ)*s(λ)＝Iout(λ)/Rsplt(λ)；

b.样品测试：撤下标准白板，将待测样品固定到透过率检测室(3)的样品支撑架(7)上，将所述样品支撑架(7)放入到固定架(9)中，将遮光罩(10)罩在固定架(9)外，组成透过率检测室(3)；输入光后，测量得到输出光探测器(44)接收到的光强Ismpout(λ)和经过分光镜(23)的输入光探测器(24)的反射光强Rsmpsplt(λ)，计算得到待测样品的透过率