1.一种测量RFID标签耦合性能参数的方法，其特征在于，通过改变目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度或RFID读写装置的发射角度这三个参数，测量目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度以及RFID读写装置的发射角度对目标标签的最小读取功率值的影响。

2.根据权利要求1所述的测量RFID标签耦合性能参数的方法，其特征在于，测量目标标签和干扰标签之间的角度对目标标签的最小读取功率值的影响的方法具体包括以下步骤：步骤S1.1、放置目标标签、干扰标签和RFID读写装置，确定目标标签和干扰标签之间的距离、角度以及RFID读写装置的发射角度；

步骤S1.2、测量目标标签的第一角度最小读取功率值；

步骤S1.3、移动干扰标签，保持目标标签和干扰标签之间的距离不变，改变目标标签和干扰标签的角度，重复步骤S1.2，得到第二角度最小读取功率值；

步骤S1.4、重复步骤S1.3，得到第一组不同目标标签和干扰标签的角度对应的最小读取功率值；

步骤S1.5、改变目标标签和干扰标签之间的距离和RFID读写装置的发射角度后，重复步骤S1.2-步骤S1.4，得到第二组不同目标标签和干扰标签的角度对应最小读取功率值；

步骤S1.6、重复步骤S1.5，得到多组不同目标标签和干扰标签的角度对应最小读取功率值。

3.根据权利要求1所述的测量RFID标签耦合性能参数的方法，其特征在于，测量目标标签和干扰标签之间的距离对目标标签的最小读取功率值的影响的方法具体包括以下步骤：步骤S2.1、放置目标标签、干扰标签和RFID读写装置，确定目标标签和干扰标签之间的距离、角度以及RFID读写装置的发射角度；

步骤S2.2、测量目标标签的第一距离最小读取功率值；

步骤S2.3、移动干扰标签，保持目标标签和干扰标签之间的角度不变，改变目标标签和干扰标签的距离，重复步骤S2.2，得到第二距离最小读取功率值；

步骤S2.4、重复步骤S2.3，得到第一组不同目标标签和干扰标签的距离对应的最小读取功率值；

步骤S2.5、改变目标标签和干扰标签之间的角度和RFID读写装置的发射角度后，重复步骤S2.2-步骤S2.4，得到第二组不同目标标签和干扰标签的距离对应最小读取功率值；

步骤S2.6、重复步骤S2.5，得到多组不同目标标签和干扰标签的距离对应最小读取功率值。

4.根据权利要求1所述的测量RFID标签耦合性能参数的方法，其特征在于，测量RFID读写装置的发射角度对目标标签的最小读取功率值的影响的方法具体包括以下步骤：步骤S3.1、放置目标标签、干扰标签和RFID读写装置，确定目标标签和干扰标签之间的距离、角度以及RFID读写装置的发射角度；

步骤S3.2、测量目标标签的第一位置最小读取功率值；

步骤S3.3、保持目标标签和干扰标签之间的距离和角度不变，移动RFID读写装置，改变RFID读写装置的发射角度，重复步骤S3.2，得到第二位置最小读取功率值；

步骤S3.4、重复步骤S3.3，得到第一组不同RFID读写装置的发射角度对应的最小读取功率值；

步骤S3.5、改变目标标签和干扰标签之间的距离和角度后，重复步骤S3.2-步骤S3.4，得到第二组不同RFID读写装置的发射角度对应的最小读取功率值；

步骤S3.6、重复步骤S3.5，得到多组不同RFID读写装置的发射角度对应的最小读取功率值。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的测量RFID标签耦合性能参数的方法，其特征在于，还包括测量目标标签和多个干扰标签堆叠下的耦合性能参数的方法，具体步骤为：步骤S4.1、将目标标签和多个干扰标签分别放置于实验台上，再将放置了标签的实验台堆成一摞且将放置了目标标签的实验台置于最上端，并在实验台的侧面安装RFID读写装置；

步骤S4.2、测量目标标签的堆叠下的第一最小读取功率值，以及利用RFID读写装置实际测得的标签数目和实际存在的标签数目之比测量堆叠下的第一读取率；

步骤S4.3、改变RFID读写装置的发射角度且RFID读写装置位于实验台的侧面，重复步骤S4.2，得到堆叠下的第二最小读取功率值和堆叠下的第二读取率；

步骤S4.4、重复步骤S4.3，得到一组不同位置的堆叠下的最小读取功率值以及堆叠下的读取率。

6.一种用于测量RFID标签耦合性能参数的装置，其特征在于，包括箱体和RFID读写装置(5)，所述箱体包括上端开口的矩形箱(1)和盖板(2)，盖板(2)设置在矩形箱(1)上端开口处，所述盖板(2)与矩形箱(1)铰接，所述矩形箱(1)的底板(4)上放置有第一实验台(6)和第二实验台(8)，所述第一实验台(6)用于放置目标标签，所述第二实验台(8)用于放置干扰标签，所述箱体上设置有多个安装孔(3)，所述安装孔(3)用于安装RFID读写装置(5)。

7.根据权利要求6所述的用于测量RFID标签耦合性能参数的装置，其特征在于，所述底板(4)上设置有坐标纸(7)，第一实验台(6)和第二实验台(8)放置在坐标纸(7)上，所述坐标纸(7)用于显示第一实验台(6)和第二实验台(8)的坐标位置。

8.根据权利要求6所述的用于测量RFID标签耦合性能参数的装置，其特征在于，所有安装孔(3)均设置有配套的封闭塞，所述封闭塞用于封闭安装孔(3)，所有封闭塞外表面均包裹有一层吸波材料。

9.根据权利要求6所述的用于测量RFID标签耦合性能参数的装置，其特征在于，所述第一实验台(6)和第二实验台(8)外表面包裹有一层吸波材料，所述箱体内侧和外侧均贴有吸波材料。

10.根据权利要求6所述的用于测量RFID标签耦合性能参数的装置，其特征在于，所述RFID读写装置(5)包括RFID读写器和天线，天线设置在箱体内侧，RFID读写器设置在箱体外侧，且RFID读写装置(5)与箱体之间为可拆卸连接。