1.一种测量RFID标签耦合性能参数的方法，其特征在于，通过改变目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度或RFID读写装置的发射角度这三个参数，测量目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度以及RFID读写装置的发射角度对目标标签的最小读取功率值的影响，还包括测量目标标签和多个干扰标签堆叠下的耦合性能参数的方法，具体步骤为：步骤S4.1、将目标标签和多个干扰标签分别放置于实验台上，再将放置了标签的实验台堆成一摞且将放置了目标标签的实验台置于最上端，并在实验台的侧面安装RFID读写装置；

步骤S4.2、测量目标标签的堆叠下的第一最小读取功率值，以及利用RFID读写装置实际测得的标签数目和实际存在的标签数目之比测量堆叠下的第一读取率；

步骤S4.3、改变RFID读写装置的发射角度且RFID读写装置位于实验台的侧面，重复步骤S4.2，得到堆叠下的第二最小读取功率值和堆叠下的第二读取率；

步骤S4.4、重复步骤S4.3，得到一组不同位置的堆叠下的最小读取功率值以及堆叠下的读取率。

2.根据权利要求1所述的测量RFID标签耦合性能参数的方法，其特征在于，测量目标标签和干扰标签之间的角度对目标标签的最小读取功率值的影响的方法具体包括以下步骤：步骤S1.1、放置目标标签、干扰标签和RFID读写装置，确定目标标签和干扰标签之间的距离、角度以及RFID读写装置的发射角度；

步骤S1.2、测量目标标签的第一角度最小读取功率值；

步骤S1.3、移动干扰标签，保持目标标签和干扰标签之间的距离不变，改变目标标签和干扰标签的角度，重复步骤S1.2，得到第二角度最小读取功率值；

步骤S1.4、重复步骤S1.3，得到第一组不同目标标签和干扰标签的角度对应的最小读取功率值；

步骤S1.5、改变目标标签和干扰标签之间的距离和RFID读写装置的发射角度后，重复步骤S1.2‑步骤S1.4，得到第二组不同目标标签和干扰标签的角度对应最小读取功率值；

步骤S1.6、重复步骤S1.5，得到多组不同目标标签和干扰标签的角度对应最小读取功率值。

3.根据权利要求1所述的测量RFID标签耦合性能参数的方法，其特征在于，测量目标标签和干扰标签之间的距离对目标标签的最小读取功率值的影响的方法具体包括以下步骤：步骤S2.1、放置目标标签、干扰标签和RFID读写装置，确定目标标签和干扰标签之间的距离、角度以及RFID读写装置的发射角度；

步骤S2.2、测量目标标签的第一距离最小读取功率值；

步骤S2.3、移动干扰标签，保持目标标签和干扰标签之间的角度不变，改变目标标签和干扰标签的距离，重复步骤S2.2，得到第二距离最小读取功率值；

步骤S2.4、重复步骤S2.3，得到第一组不同目标标签和干扰标签的距离对应的最小读取功率值；

步骤S2.5、改变目标标签和干扰标签之间的角度和RFID读写装置的发射角度后，重复步骤S2.2‑步骤S2.4，得到第二组不同目标标签和干扰标签的距离对应最小读取功率值；

步骤S2.6、重复步骤S2.5，得到多组不同目标标签和干扰标签的距离对应最小读取功率值。

4.根据权利要求1所述的测量RFID标签耦合性能参数的方法，其特征在于，测量RFID读写装置的发射角度对目标标签的最小读取功率值的影响的方法具体包括以下步骤：步骤S3.1、放置目标标签、干扰标签和RFID读写装置，确定目标标签和干扰标签之间的距离、角度以及RFID读写装置的发射角度；

步骤S3.2、测量目标标签的第一位置最小读取功率值；

步骤S3.3、保持目标标签和干扰标签之间的距离和角度不变，移动RFID读写装置，改变RFID读写装置的发射角度，重复步骤S3.2，得到第二位置最小读取功率值；

步骤S3.4、重复步骤S3.3，得到第一组不同RFID读写装置的发射角度对应的最小读取功率值；

步骤S3.5、改变目标标签和干扰标签之间的距离和角度后，重复步骤S3.2‑步骤S3.4，得到第二组不同RFID读写装置的发射角度对应的最小读取功率值；

步骤S3.6、重复步骤S3.5，得到多组不同RFID读写装置的发射角度对应的最小读取功率值。