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专利号: 201710992455X
申请人: 广东长盈精密技术有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-04-02
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种导通电阻测试装置,其特征在于,包括机架、驱动件、下测试模组以及上测试模组,所述下测试模组包括下安装板组、浮动板及下探针,所述下安装板组设于所述机架上,所述浮动板可升降地设于所述下安装板组上且其上形成有承载工件的工位,所述下探针固定于所述下安装板组上且可伸缩地穿设于所述浮动板;所述上测试模组包括与所述下安装板组相对的上安装板组、上探针及预压组件,所述上探针和所述预压组件均凸伸于所述上安装板组面向所述下安装板组的表面,所述驱动件与所述上安装板组连接,且驱动所述上安装板组向靠近所述下安装板组下降至所述上探针与所述工件的一面抵接和向远离所述下安装板组的方向上升至所述上探针与所述工件分离;所述预压组件在所述上安装板组下降时相对所述下安装板下压所述浮动板至所述下探针伸出所述浮动板外与所述工位内所述工件的另一面抵接,所述浮动板在所述预压组件随所述上安装板与之分离时相对所述下安装板上升至所述下探针缩回;

所述预压组件靠近所述浮动板的一端设有相对所述上安装板组可伸缩的下压端,且所述预压组件包括自然状态和测试状态,所述预压组件处于自然状态时所述下压端与所述上安装板组之间的距离大于所述上探针凸出所述上安装板组面向所述下安装板组一侧的距离,所述预压组件下压所述浮动板并处于测试状态时所述下压端与所述上安装板组之间的间距减小以使所述上探针和所述下探针同时抵接所述工件对应的两个面。

2.根据权利要求1所述的导通电阻测试装置,其特征在于,所述预压组件包括预压块和第二弹性件,所述预压块可活动地设于所述上安装板组面向所述下安装板组的一侧,所述下压端位于所述预压块靠近所述浮动板的一端,所述第二弹性件沿其伸缩方向抵接于所述上安装板组和所述预压块之间,所述预压组件处于测试状态时所述第二弹性件被压缩且所述预压块与所述上安装板组之间的间距减小。

3.根据权利要求2所述的导通电阻测试装置,其特征在于,所述预压组件还包括连杆,所述连杆包括杆体和杆帽,所述杆体沿轴向可移动地贯穿所述上安装板组,所述杆帽位于所述上安装板组背向所述浮动板的一侧且固定于所述杆体的一端,所述预压块位于所述上安装板组面向所述浮动板的一侧且固定于所述杆体的另一端,所述第二弹性件套设于所述杆体上且沿其伸缩方向抵接于所述上安装板组和所述预压块之间。

4.根据权利要求1-3任意一项所述的导通电阻测试装置,其特征在于,所述下测试模组还包括第一弹性件,所述第一弹性件沿其伸缩方向抵接于所述下安装板组和所述浮动板之间。

5.根据权利要求1-3任意一项所述的导通电阻测试装置,其特征在于,所述下测试模组还包括导向柱,所述导向柱固定于所述浮动板上且向靠近所述下安装板组的方向延伸,所述下安装板组上开设有允许所述导向柱通过的通孔,所述浮动板相对所述下安装板组升降时带动所述导向柱沿所述通孔移动。

6.根据权利要求1所述的导通电阻测试装置,其特征在于,所述上测试模组还包括限位件,所述限位件固定于所述上安装板组面向所述下安装板组的一侧,所述上安装板组下降至所述上探针与所述工件抵接时所述限位件与所述浮动板抵接。

7.根据权利要求1所述的导通电阻测试装置,其特征在于,所述上安装板组包括上安装板和固定于所述上安装板上的上电路板,所述上探针穿过所述上安装板且与所述上电路板连接;所述下安装板组包括下安装板和固定于所述下安装板上的下电路板,所述下电路板位于所述下安装板与所述浮动板之间,所述下探针与所述下电路板连接且穿过所述下安装板。

8.根据权利要求1所述的导通电阻测试装置,其特征在于,还包括移动机构,所述机架包括移动平台和安装架,所述移动平台包括相对设置的上料端和测试端,所述安装架设于所述测试端且与所述测试端之间形成工作空间,所述驱动件设于所述安装架上,且驱动所述上测试模组在所述工作空间内升降,所述移动机构与所述下测试模组连接,且带动所述下测试模组在所述上料端和所述测试端之间往复平移,以伸入或退出所述工作空间。

9.根据权利要求8所述的导通电阻测试装置,其特征在于,还包括控制器、均与所述控制器连接的第一提示件及第二提示件,所述控制器在所述上测试模组和所述下测试模组检测到所述工件的导通电阻合格时控制所述第一提示件启动,所述控制器还在所述上测试模组和所述下测试模组中任意一者检测到所述工件的导通电阻不合格时控制所述第二提示件启动。