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专利号: 2017110923191
申请人: 西南交通大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种高温超导磁悬浮的磁‑力测试方法,其特征在于,所述磁‑力测试方法包括:获取超导块材样品的采样点的第一磁场数据,所述采样点至少包括:所述超导块材的籽晶面中心、至少一处籽晶生长边界、至少一处籽晶生长区域及对应的非籽晶面采样点;

获取所述超导块材样品的第一电磁力数据;

根据所述第一磁场数据和所述第一电磁力数据,分析所述超导块材样品的电磁特性。

2.如权利要求1所述的磁‑力测试方法,其特征在于,所述获取超导块材样品的采样点的第一磁场数据,包括:控制超导块材样品在场冷位置和工作位置之间进行往返运动,实时获取所述采样点的磁场;

根据所述磁场、所述超导块材样品往返运行的移动速度和运动时间,确定磁场与位移的第一关联关系;

所述获取所述超导块材样品的第一电磁力数据,包括:获取所述超导块材样品在所述往返运行过程中的受力;

根据所述受力和所述超导块材样品的位移量,确定电磁力与位移的第二关联关系。

3.如权利要求1所述的磁‑力测试方法,其特征在于,在所述获取超导块材样品的采样点的磁场和超导块材的电磁力之前,所述磁‑力测试方法还包括:将所述超导块材样品置于低温容器中进行冷却,直至所述超导块材样品达到设定冷却温度;

确定所述超导块材样品在所述设定冷却温度条件下的磁感应强度。

4.如权利要求3所述的磁‑力测试方法,其特征在于,所述确定所述超导块材样品在所述设定冷却温度条件下的磁感应强度,包括:获取所述采样点的输出电压信号;

对所述采样点的所述输出电压信号进行处理,得到所述超导块材样品的磁感应强度。

5.如权利要求1所述的磁‑力测试方法,其特征在于,所述磁‑力测试方法还包括:获取在测试导向力测试过程或振动过程中的采样点的第二磁场数据和第二电磁力数据;

根据所述第二磁场数据和第二电磁力数据,分析所述超导块材样品的电磁特性。

6.一种高温超导磁悬浮的磁‑力测试装置,其特征在于,所述磁‑力测试装置包括:第一传感器,用于获取超导块材样品的采样点的第一磁场数据,所述采样点至少包括:所述超导块材的籽晶面中心、至少一处籽晶生长边界、至少一处籽晶生长区域及对应的非籽晶面采样点;

第二传感器,用于获取所述超导块材样品的第一电磁力数据;

分析装置,用于根据所述第一磁场数据和所述第一电磁力数据,分析所述超导块材样品的电磁特性。

7.如权利要求6所述的磁‑力测试装置,其特征在于,所述磁‑力测试装置还包括驱动装置、第一记录装置和第二记录装置,其中,所述驱动装置用于控制超导块材样品在场冷位置和工作位置之间进行往返运动;

所述第一传感器用于实时获取所述采样点的磁场;

所述记录装置用于记录所述超导块材样品往返运行的移动速度和运动时间;

所述分析装置包括第一分析子装置,所述第一分析子装置用于根据所述磁场、所述超导块材样品往返运行的移动速度和运动时间,确定磁场与位移的第一关联关系;

所述第二传感器用于获取所述超导块材样品在所述往返运行过程中的受力;

所述第二记录装置用于记录所述超导块材样品的位移量;

所述分析装置包括第二分析子装置,所述第二分析子装置用于根据所述受力和所述超导块材样品的位移量,确定电磁力与位移的第二关联关系。

8.如权利要求6所述的磁‑力测试装置,其特征在于,所述磁‑力测试装置还包括低温容器,用于在所述获取超导块材样品的采样点的磁场和电磁力之前,对所述超导块材样品进行冷却,直至所述超导块材样品达到设定冷却温度;

所述磁‑力测试装置还用于确定所述超导块材样品在所述设定冷却温度条件下的磁感应强度。

9.如权利要求8所述的磁‑力测试装置,其特征在于,所述磁‑力测试装置还包括多通道数据采集卡,用于:获取所述采样点的输出电压信号;以及

对所述采样点的所述输出电压信号进行处理,得到所述超导块材样品的磁感应强度。

10.如权利要求6所述的磁‑力测试装置,其特征在于,所述装置还包括:第三传感器,用于:获取在测试导向力测试过程或振动过程中的所述采样点的第二磁场数据;

第四传感器,用于获取在所述导向力测试过程或所述振动过程中的所述采样点的第二电磁力数据;

所述分析装置还用于根据所述第二磁场数据和第二电磁力数据,分析所述超导块材样品的电磁特性。