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专利号: 2017111018888
申请人: 东北石油大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-11-18
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种工作在高折射率溶液环境下的双对称 PCF-SPR探针,其特征在于:所述双对称 PCF-SPR探针包括两根对称的光子晶体光纤(1)和涂覆层(7),所述光子晶体光纤(1)的包层(5)内设有中心空气孔(2),中心空气孔(2)的周围设有八个呈正八边形交叉排列的外层小空气孔(3)和外层大空气孔(4),所述包层(5)的外壁上镀有银-石墨烯复合膜(6)。

2.根据权利要求1所述的一种工作在高折射率溶液环境下的双对称PCF-SPR探针,其特征在于:所述中心空气孔(2)的半径为0.8μm。

3.根据权利要求1所述的一种工作在高折射率溶液环境下的双对称PCF-SPR探针,其特征在于:所述外层大空气孔(4)的半径是外层小空气孔(3)半径的2.5倍。

4.根据权利要求1-3任一项所述的一种工作在高折射率溶液环境下的双对称PCF-SPR探针,其特征在于:所述外层小空气孔(3)的半径为0.8μm,所述外层大空气孔(4)的半径为2μm。

5.根据权利要求1-3任一项所述的一种工作在高折射率溶液环境下的双对称PCF-SPR探针,其特征在于:所述银-石墨烯复合膜(6)厚度为45nm。

6.根据权利要求1-3任一项所述的一种工作在高折射率溶液环境下的双对称PCF-SPR探针,其特征在于:所述银-石墨烯复合膜(6)为三层石墨烯,石墨烯镀在银膜外侧。

7.根据权利要求4所述的一种工作在高折射率溶液环境下的双对称PCF-SPR探针,其特征在于:所述银-石墨烯复合膜(6)厚度为45nm。

8.根据权利要求6所述的一种工作在高折射率溶液环境下的双对称PCF-SPR探针,其特征在于:所述银-石墨烯复合膜(6)厚度为45nm。

9.根据权利要求1、2、3、7或8任一项所述的一种工作在高折射率溶液环境下的双对称PCF-SPR探针,其特征在于:所述包层(5)的材料为环烯烃共聚物。

10.根据权利要求1、2、3、7或8任一项所述的一种工作在高折射率溶液环境下的双对称PCF-SPR探针,其特征在于:所述光子晶体光纤(1)为折射率引导型光子晶体光纤。