1.一种高压直流电缆用半导电层电荷发射测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：来自电源端(1)的电压加载于第一电极(2)上，然后依次传递至与所述第一电极(2)相接触的半导电层(3)、与所述半导电层(3)相接触的试品(4)、与所述试品(4)相接触的第二电极(5)，从而形成一个电路回路；

所述第一电极(2)内形成空心区(25)；

所述半导电层(3)分为半导电层第一区(31)和与其相邻的半导电层第二区(32)；所述半导电层第一区(31)与空心区(25)相对应，所述半导电层第二区(32)与第一电极(2)相接触；

所述空心区(25)内、半导电层第一区(31)上放置有压块(6)；

所述试品(4)分为试品第一区(41)和与其相邻的试品第二区(42)；所述试品第一区(41)与所述半导电层第一区(31)相接触，所述试品第二区(42)与所述半导电层第二区(32)相接触；

S2：持续给装置加载电压，直至达到测试规定的时间，断开电源；

S3：移走装置，保留试品(4)；

S4：测量所述试品第一区(41)的电荷，以确定所述半导电层(3)是否对试品(4)发射电荷；如果所述试品第一区(41)具有电荷，则确定半导电层(3)对试品(4)发射了电荷；反之，则没有发射电荷。

2.根据权利要求1所述的高压直流电缆用半导电层电荷发射测试方法，其特征在于，所述压块(6)外表面设置有外罩(7)，所述外罩(7)为绝缘材料。

3.根据权利要求1或2所述的高压直流电缆用半导电层电荷发射测试方法，其特征在于，所述S1中，所述半导电层(3)还包括半导电层第三区(33)，所述半导电层第三区(33)环绕所述半导电层第二区(32)；所述试品(4)还包括试品第三区(43)，所述试品第三区(43)环绕所述试品第二区(42)，且所述试品第三区(43)与所述半导电层第三区(33)相接触。

4.根据权利要求1或2所述的高压直流电缆用半导电层电荷发射测试方法，其特征在于，所述S4中，测量所述试品第一区(41)的中间部位是否有电荷；或者在S4进行测量前，还包括对试品(4)的切割步骤，将所述试品第一区(41)切割出来进行电荷测量。

5.一种高压直流电缆用半导电层电荷发射测试装置，其特征在于，包括，电源端(1)和与其相连的第一电极(2)；

所述第一电极(2)内形成空心区(25)，所述第一电极(2)的下表面(22)与半导电层(3)的上表面相接触；第一电极(2)的下表面(22)简称为电极下表面(22)；

所述半导电层(3)的下表面与待测试品(4)的上表面相接触；

所述试品(4)放置在第二电极(5)上；

所述半导电层(3)分为半导电层第一区(31)和与其相邻的半导电层第二区(32)；所述半导电层第一区(31)与空心区(25)相对应，所述半导电层第二区(32)与电极下表面(22)相接触；

所述空心区(25)内、半导电层第一区(31)上放置有压块(6)；

所述试品(4)分为试品第一区(41)和与其相邻的试品第二区(42)；所述试品第一区(41)与所述半导电层第一区(31)相接触，所述试品第二区(42)与所述半导电层第二区(32)相接触。

6.根据权利要求5所述的高压直流电缆用半导电层电荷发射测试装置，其特征在于，所述压块(6)选用绝缘材料。

7.根据权利要求6所述的高压直流电缆用半导电层电荷发射测试装置，其特征在于，所述绝缘材料选择聚四氟乙烯。

8.根据权利要求7所述的高压直流电缆用半导电层电荷发射测试装置，其特征在于，所述聚四氟乙烯为高纯度的聚四氟乙烯，其纯度≥90％。

9.根据权利要求5所述的高压直流电缆用半导电层电荷发射测试装置，其特征在于，所述压块(6)外表面设置有外罩(7)，所述外罩(7)为绝缘材料。

10.根据权利要求5-9任一所述的高压直流电缆用半导电层电荷发射测试装置，其特征在于，所述第一电极(2)包括电极上表面(21)、电极下表面(22)、电极内表面(23)和电极外表面(24)，其中，所述电极上表面(21)和电极下表面(22)均分别与电极内表面(23)和电极外表面(24)相邻；所述电极内表面(23)形成空心区(25)；所述电极下表面(22)与所述半导电层(3)的上表面相接触；

所述半导电层(3)还包括半导电层第三区(33)，所述半导电层第三区(33)环绕所述半导电层第二区(32)；所述试品(4)还包括试品第三区(43)，所述试品第三区(43)环绕所述试品第二区(42)；且所述试品第三区(43)与所述半导电层第三区(33)相接触。

11.根据权利要求5-9任一所述的高压直流电缆用半导电层电荷发射测试装置，其特征在于，所述第一电极(2)的各个表面之间的接触处均为光滑过渡面；所述半导电层(3)为半导电材料，其厚度为0.1-1mm；所述试品(4)为绝缘材料，其厚度为0.1-1mm。