1.一种傅里叶变换红外光谱原位漫反射谱图的三级校正方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：

(1)在2000-2050cm-1波数范围内取一波数点A，将傅里叶红外光谱原位漫反射实时测定的三维红外谱图分成两段谱图，这里取波数点2000cm-1，得到400-2000cm-1和2000-4000cm-1两段谱图；

(2)将步骤(1)所得两段谱图的两端进行平直，促使两端无吸收峰区域内的基线保持平直；

(3)将步骤(2)所得三维谱图转化为吸光度谱图，并分别进行自动基线校正；

(4)将步骤(3)校正后的吸光度三维谱图转换为Kubelka-Munk三维谱图，完成三维红外谱图随波数变化的基线漂移校正；

(5)将步骤(4)所得校正后2000-4000cm-1和400-2000cm-1波数范围的三维谱图，分别取-1 -1无吸收峰的3900-4000cm 和1980-2000cm 波数范围内的一个温度基线波数点B点和C点，从三维谱图中截取得到该波数点在红外测试过程中，随温度升高Kubelka-Munk吸光强度的变化规律即为该波数范围内基线随温度升高的漂移情况；

(6)在2000-4000cm-1和400-2000cm-1波数段内的特征峰峰强原位演变谱线中，分别扣除波数点B、C处基线的温度漂移，准确得到各吸收基团所在波数随温度变化的曲线，完成各特征基团所在波数谱线随温度变化的基线漂移校正；

(7)经步骤(1)-(6)得到相应波数下特征基团随温度变化的规律，由于不同实验样品表面平整度存在客观差异，导致相同或不同实验条件下，特征基团随温度变化规律的初始Kubelka-Munk吸光强度存在差异；通过乘谱方法，实时分析在不同实验样品表面的、相应波数下特征基团随温度变化的不同谱图，取不同谱图在特定温度时的初始吸光强度Kc和Kd，以初始吸光强度较低的Kd谱图为基准，得到Kc和Kd的初始吸光强度值之比i＝Kd/Kc，以初始吸光强度值之比i为乘谱系数，得到初始吸光强度一致条件下的谱图，完成初始吸光强度差异校正，以进行同一样品在不同试验条件下的谱图定性对比分析。