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专利号: 2017113416714
申请人: 三峡大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2025-04-16
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种垂直生长的二硫化钼阵列电极材料,其特征在于,所述的二硫化钼为纳米片状结构,所述的电极材料中,二硫化钼垂直生长于基底上。

2.权利要求1所述的垂直生长的二硫化钼阵列电极材料,其特征在于,所述的二硫化钼的片状结构有20%-90%垂直生长于基底上。

3.权利要求1或2所述的垂直生长的二硫化钼阵列电极材料的制备方法,其特征在于,具体制备方法如下:(1)在室温下,将氯化钼溶于乙醇,再加入添加剂,得到前躯液;

(2)将上述前躯液滴涂或旋涂到基底上,70 100℃下快速干燥,得到前驱膜;

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(3)将步骤(2)中前驱膜于Ar+S气氛中或N2+S气氛中,经500~900℃烧结10 min~4 h随炉冷却取出即可得到二硫化钼原位电极。

4.根据权利要求权利3所述的垂直生长的二硫化钼阵列电极材料的制备方法,其特征在于,所述的添加剂包括氯化镍、氯化铜、双氰胺中的任意一种。

5.根据权利要求权利3所述的垂直生长的二硫化钼阵列电极材料的制备方法,其特征在于,所述的氯化钼的浓度为100 700 mM,添加剂与氯化钼的摩尔比为1:5 25。

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6.根据权利要求权利3所述的垂直生长的二硫化钼阵列电极材料的制备方法,其特征在于,所述的氯化钼的浓度为100 700 mM,添加剂与氯化钼的摩尔比为1:5 25。

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7.根据权利要求权利3所述的垂直生长的二硫化钼阵列电极材料的制备方法,其特征在于,所述的氯化钼的浓度为100 700 mM,添加剂与氯化钼的摩尔比为1:5 25。

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8.根据权利要求权利3所述的垂直生长的二硫化钼阵列电极材料的制备方法,其特征在于,所述的步骤(2)中将上述前躯液滴涂或旋涂到基底上,70 100℃于干燥空气中自然干~燥或于热台上干燥5-15 min,得到前驱膜。

9.根据权利要求权利3所述的垂直生长的二硫化钼阵列电极材料的制备方法,其特征在于,步骤(3)中,前驱膜于Ar+S气氛下500℃烧结30min,再在800℃下烧结30min后随炉冷却取出即可得到产品。