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专利号: 2017205436158
申请人: 浙江大学
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
专利领域: 光学
更新日期:2023-08-24
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.新型多角度环状光学照明显微成像系统,其特征在于包括激光器、单模光纤、准直透镜、四分之一波片、4f二维扫描振镜系统、聚焦镜、二色镜、TIRF显微物镜、样品台、滤波片、第二场镜、探测器;单模光纤、准直透镜、四分之一波片、4f二维扫描振镜系统依次位于激光器出射光束的光轴之上,聚焦镜、二色镜依次位于经4f二维扫描振镜系统射出光束的光轴上;TIRF显微物镜、样品台依次位于二色镜反射光束光轴上,滤波片、第二场镜、探测器依次位于二色镜透射光束光轴上;所述样品台位于TIRF显微物镜的焦平面处,所述探测器的采集孔位于第二场镜的焦平面处;

所述的4f二维扫描振镜系统包含两个一维振镜和两个透镜,两个透镜组成4f系统,两个一维振镜的转动轴相互垂直,反射面严格位于4f系统的共轭面上,以保证环状TIRF照明光斑维持一个完美的圆形;在多色TIRF成像的实验研究中,通过精确控制二维振镜上的电压值,使得在不同波长下的TIRF场的渗透深度保持一致。

2.根据权利要求1所述的新型多角度环状光学照明显微成像系统,其特征在于激光器发射的准直激光光束,首先被导入单模光纤,从单模光纤射出的激光光束,经过准直透镜完成准直;经过准直后的光束通过四分之一波片来调节,使其形成圆偏振光,之后入射到二维振镜系统中,通过二维振镜系统来控制入射光的偏转角从而达到控制入射激光的入射角,且该二维振镜系统被安装在4f系统的共轭面上,从而确保了入射光斑是一个完美的圆形,在多色成像的实验研究中,可以通过控制二维振镜上的电压值,使得在不同波长入射光下其TIRF场的渗透深度保持一致;二维振镜系统的出射光,平行射出分别经聚焦镜和二色镜的聚焦和反射后,聚焦于TIRF显微物镜并投射于样品台上的待测样品之上;待测样品所发射的信号光被TIRF显微物镜收集,先通过二色镜透射后再依次经过滤波片滤去杂散光,其次经第二场镜聚焦,最终被探测器采集,探测器记录此时探测到的光强信号。