1.主磁场不均匀下的分数域磁共振成像方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：确定带有磁场强度参数的磁共振虚拟二维FID信号的表达式；

S2：采集磁场强度数据，通过测量成像物体上的磁场数据来拟合磁场的多项式模型，建立多项式主磁场模型：式(1)中，n为多项式的阶数，若测量的磁场中有明显的二阶分量，则取n＝2；否则，取n>

2；参数ak，bk,B0均为多项式的系数，用数学上的插值方法得到，x表示成像区域在磁共振仪中被成像物体层面上的横坐标，y表示成像区域在磁共振仪器中被成像物体层面上的纵坐标，B(x,y)表示坐标(x,y)处主磁场强度的大小；

S3：求自旋密度函数；

S4：求离散的自旋密度函数，取模得被测物的灰度图像。

2.如权利要求1所述的主磁场不均匀下的分数域磁共振成像方法，其特征在于，主磁场强度不均匀的情况下，所述步骤S1中的磁共振虚拟二维FID信号的表达式为：式(2)中gx和gy分别表示频率编码梯度和相位编码梯度，tx和ty分别表示频率编码梯度和相位编码梯度加载的时间，S(tx,ty)表示时间tx、ty时的磁共振虚拟二维FID信号，γ表示磁旋比，ρ(x,y)表示被成像的物体在坐标(x,y)处的自旋密度大小。

3.如权利要求1所述的主磁场不均匀下的分数域磁共振成像方法，其特征在于，在所述步骤S3中，当n＝2时，连续的自旋密度函数的计算式为：式(3)中，tx和ty分别表示频率编码梯度和相位编码梯度加载的时间，S(tx,ty)表示时间tx、ty时的磁共振虚拟二维FID信号，γ表示磁旋比，ρ(x,y)表示被成像的物体在坐标(x,y)处的自旋密度大小，且：其中，gx和gy分别表示频率编码梯度和相位编码梯度，ρ表示二维分数阶变量的二维参数，α表示二维分数阶的两个角度αx和αy的二维参数，a1、b1分别表示主磁场模型B(x,y)中多项式中系数ak、bk在k＝1时的值，定义：其中，a2、b2分别表示主磁场模型B(x,y)中多项式中系数ak、bk在k＝2时的值，当n>2时，含自旋密度函数的虚拟二维FID磁共振信号S(tx,ty)表达为：

4.如权利要求3所述的主磁场不均匀下的分数域磁共振成像方法，其特征在于，在所述步骤S4中，求离散的自旋密度函数的方法包括将S3中式(3)或式(4)中连续的自旋密度函数ρ(x,y)表达式进行离散化的步骤，具体为：当n＝2时，对式(3)进行离散化；

分别从时间tx,ty和空间x,y进行离散化；按照tx,ty的采样间隔Δtx,Δty采样，并且采样点数分别取N和M，x,y的采样间隔取Δx和Δy，采样点数同样分别取N和M，离散化后的自旋密度函数的表达式为：式(5)中Ω＝ΔtxΔtyγ2(a1gy+gxb1+gxgy)，为一常数；Δx,Δy是相邻像素点的坐标间隔，xkl＝(kΔx,lΔy)是第k行第l个像素点的坐标；txn,tym分别表示在时间tx和ty上的第n个和第m个采样时刻；Anm，Bnm，ρnm，αxnm，αynm分别表示在相应的txn,tym时刻A，B，ρ，αx，αy的值；

当n>2时，对式(4)进行离散化；

取Δx,Δy分别表示x轴和y轴方向离散化的间隔，N，M分别表示x轴和y轴方向离散点的个数，取时间tx和ty的离散化点数分别为N，M个，因此时间离散化后表达式为

1≤k≤N,1≤l≤M                                            (6)xn,ym分别表示第n和第m个空间采样点处的坐标值。

5.如权利要求4所述的主磁场不均匀下的分数域磁共振成像方法，其特征在于，所述式(6)右边的每一个数的值是待成像物体自旋密度函数的线性组合的形式，总共有N×M个方程，通过解方程组的方法求出N×M个自旋密度函数ρ(xn,ym)的值；式(6)变为：其中，

6.如权利要求5所述的主磁场不均匀下的分数域磁共振成像方法，其特征在于，所述式(7)中离散的虚拟二维FID磁共振信号 总共有N×M个，为已知值，所需求解的离散自旋密度函数ρ(xn,ym)总共有N×M个，需要参与计算的磁场强度点总共有N×M个。

7.如权利要求5所述的主磁场不均匀下的分数域磁共振成像方法，其特征在于，所述式(7)写成Ax＝b的形式，求解得x＝A-1b，其中，自旋密度函数为x中的元素，将x中的元素按照行排列到N×M大小的矩阵中，然后每个元素取模便是图像的灰度值。

8.如权利要求4～7中任一权利要求所述的主磁场不均匀下的分数域磁共振成像方法，其特征在于，所述的的N，M是任意取的，取Δx,Δy的原则为：通过射频脉冲的带宽，频率编码梯度，相位编码梯度的大小确定成像区域的视野，Δx为该方形区域x轴方向的边长N等分的间隔，Δy为该方形区域y轴方向的边长M等分的间隔。

9.如权利要求4～7中任一权利要求所述的主磁场不均匀下的分数域磁共振成像方法，其特征在于，所述的时间间隔Δtx和Δty分别为：