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专利号: 2018100485320
申请人: 华侨大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种海底凹坑深度发育测量装置,其特征在于:它包括套管、伸缩件、第一复位弹性件、正负电极片、控制器、信号发射器、信号接收器、测量器、配重件;正负电极片间隔布置在套管内且与测量器连接,控制器与测量器和信号发射器相连接,信号发射器与信号接收器连接;伸缩件滑动装接在套管且能传动配重件;第一复位弹性件两端分别连接伸缩件和负极电极片;配重件滑动套接在套管外且置于海床上;配重件向下滑动时带动伸缩件向套管内滑动以使正负电极片相接触;

测量器测量正负电极片之间的电阻值并将该电阻信号传送至控制器,控制器将电阻信号与设定电阻进行比较、判断并控制信号发射器是否发射信号至信号接收器。

2.如权利要求1所述的一种海底凹坑深度发育测量装置,其特征在于:电阻信号小于设定电阻值时,控制器控制信号发射器发射信号至信号接收器;电阻信号大于设定电阻值时,控制器控制信号发射器不发射信号至信号接收器。

3.如权利要求1所述的一种海底凹坑深度发育测量装置,其特征在于:伸缩件包括滑动部和固接滑动部的传动部,套管之侧壁开设有中空的滑动腔,滑动部滑动装接在滑动腔,传动部伸出滑动腔且与配置件传动配合,第一复位弹性件位于滑动腔内且其一端连接滑动部。

4.如权利要求3所述的一种海底凹坑深度发育测量装置,其特征在于:所述滑动腔为中空的圆柱体,滑动部为圆柱体,传动部为三角形体,该三角形体之斜边对应配重件。

5.如权利要求1所述的一种海底凹坑深度发育测量装置,其特征在于:所述正负电极片之长度与套管之长度相同,且正负电极片首尾端部之间设置有第二复位弹性件。

6.如权利要求5所述的一种海底凹坑深度发育测量装置,其特征在于:负电极片靠近首尾端部处设有折弯部,伸缩件位于两个折弯部之间。

7.如权利要求1所述的一种海底凹坑深度发育测量装置,其特征在于:还包括能漂浮在海面的浮漂,浮漂内设置有能密封的容置腔,测量器、控制器、信号发射器均装接在容置腔内,测量器与正负电极片之间通过电线连接。

8.如权利要求3所述的一种海底凹坑深度发育测量装置,其特征在于:滑动腔个数设为多个且上下间隔布置,伸缩件个数设为多个且与滑动腔一一对应,第一复位弹性件个数设为多个且与伸缩件一一对应。

9.一种如权利要求1至8中任意一项所述的海底凹坑深度发育测量装置的使用方法,其特征在于:它包括:步骤10,将伸缩件、第一复位弹性件装接在套管,且相邻伸缩件之间的距离为L,正负电极片装接在套管内且通过电线与测量器相连接,并保证套管内为密封状态,再将测量器、控制器、信号发射器及电源装在浮漂内;

步骤20,在海床面向下打出容置孔,将套管放进容置孔内,位于最上方的伸缩件与海床面的距离为L,配重件套接在套管外并置于海床面上,再将浮漂置于海面并靠近套管;

步骤30,当凹坑不发育时海床面保持不变,配重件保持不动,测量器所测正负电极片之间电阻高于设定电阻值,控制器控制信号发射器不发送电阻信号;

步骤40,当凹坑发育时,海床面下陷距离为L,配重件向下移动带动最上方的伸缩件向套管内收缩以使负电极片与正电极片相接触,测量器所测正负电极片之间的电阻低于设定电阻值,控制器控制信号发射器发送信号至信号接收器,信号接收器报警;配重件滑动至该伸缩件下方时第一复位弹性件带动该伸缩件复位。

10.如权利要求9所述的一种海底凹坑深度发育测量装置,其特征在于:

步骤50,凹坑继续发育,海床面继续下陷距离为L,配重件继续向下移动并带动第二个伸缩件收缩以使负电极片与正电极片相接触,重复步骤40,并获得时间T与凹坑发育深度L之间的关系。