1.一种薄膜电弱点测试仪，其特征在于，

A、该测试仪包括底板(1)、固设在小膜卷测试腔背面位于底板(1)上的一对大膜卷辊支架(7)、设置在小膜卷测试腔内的过渡辊(4)以及小膜卷测试腔后壁(2)开设的供大膜卷薄膜进入的窗口(3)；

所述底板(1)在大膜卷辊下方开设有供运送大膜卷辊升降小车进出的开口(10)；

所述一对大膜卷辊支架(7)的任一侧支架上设有磁粉制动器(8)，所述大膜卷辊通过转轴(9)与磁粉制动器(8)连轴端同轴活动连接；

所述过渡辊(4)设置在测试腔内展平辊后侧上方，所述过渡辊(4)与小膜卷辊转轴水平方向距离为250mm；

所述窗口(3)垂直方向中心线基准高度高于大膜卷辊轴心基准高度；

所述窗口(3)为长方形，长度为920 mm、高度为200 mm；

B、该测试仪是这样工作的：

1)小膜卷测试时，小膜卷(6)上的薄膜不经过过渡辊(4)，直接经展平辊至收卷辊；

2)当测试大膜卷(5)时，切断小膜卷(6)上的薄膜，移走试样辊上小膜卷(6)，将装好大膜卷(5)的大膜卷辊用升降小车沿底板(1)的开口(10)处推入到大膜卷辊支架(7)处并放入，将大膜卷(5)上的薄膜从后壁(2)的窗口(3)引入，经过过渡辊(4)引导后再经过展平辊至收卷辊；

3)依此类推，当再次测试小膜卷(6)时，移走大膜卷辊上大膜卷(5)及薄膜，重新将小膜卷(6)薄膜直接经展平辊至收卷辊。