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专利号: 2018101042423
申请人: 钱立文
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-11-06
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种高精度的薄膜电弱点测试仪,包括机架(1),通过铜辊轴(3)安装在机架(1)上的铜辊(2),以及设置在机架(1)一侧的与铜辊轴(3)可滑动电连接的电极总成;所述铜辊轴(3)通过铜辊轴承(4)、铜辊轴承绝缘座(5)呈绝缘的与铜辊轴承座(6)可转动连接,所述铜辊轴承座(6)通过铜辊轴承座固定螺丝(7)与机架(1)固连。

2.根据权利要求1所述的一种高精度的薄膜电弱点测试仪,其特征是:所述电极总成包括金属底座(8),及对称固设在金属底座(8)上的电极导套(9)、压簧卡销(10)及接线柱(11);所述电极导套(9) 内设置有固连电极导线(91)的电极(90),所述电极(90)与电极导套(9)呈间隙配合;所述压簧卡销(10)上设置有顶压电极(90)使其与铜辊轴(3)紧密接触的电极压簧(101),所述电极导线(91)固连至接线柱(11)。

3.根据权利要求1所述的高精度的薄膜电弱点测试仪,其特征是:所述金属底座(8)呈圆环状,通过金属底座固定螺丝(81)固连在绝缘底座(12)上。

4.根据权利要求1所述的一种高精度的薄膜电弱点测试仪,其特征是:所述绝缘底座(12)呈圆环状,通过绝缘底座固定螺丝(121)固连在铜辊轴承座(6)上。

5.根据权利要求1所述的一种高精度的薄膜电弱点测试仪,其特征是:所述金属底座(8)对称开设有用于绝缘底座固定螺丝(121)通过的U型槽。

6.根据权利要求1所述的一种高精度的薄膜电弱点测试仪,其特征是:所述金属底座固定螺丝(81)与绝缘底座固定螺丝(121)呈一定夹角设置。

7.根据权利要求1所述的一种高精度的薄膜电弱点测试仪,其特征是:所述电极(90)与铜辊轴(3)接触面设置成与铜辊轴(3)径向一致的弧型面。

8.根据权利要求1所述的一种高精度的薄膜电弱点测试仪,其特征是:所述所述电极(90)材料选用石墨。

9.根据权利要求1所述的一种高精度的薄膜电弱点测试仪,其特征是:所述电极压簧(101)为平面涡卷弹簧。