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专利号: 2018102639770
申请人: 武汉纺织大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种多辐射单元天线测试箱,其特征在于,包括测试箱主体和多个天线放置架,所述天线放置架个数与天线的辐射单元数量相同,所述测试箱主体包括箱体(1)和箱盖(2),所述箱盖(2)用于打开或关闭测试箱主体,箱盖(2)关闭后所述测试箱主体形成密封结构,所述天线放置架用于放置多辐射单元天线,且所述天线放置架的高度可调节,所述测试箱主体上还设置有高度对比装置,所述高度对比装置用于显示天线放置架的相对高度的变化。

2.根据权利要求1所述的多辐射单元天线测试箱,其特征在于,所述天线放置架包括放置板(3)和调节杆(4),所述调节杆(4)与放置板(3)垂直且下端固定在放置板(3)上,所述调节杆(4)与箱体(1)顶板活动连接,所述调节杆(4)用于调节放置板(3)距离箱体(1)顶板的距离。

3.根据权利要求2所述的多辐射单元天线测试箱,其特征在于,所述调节杆(4)下半部分与箱体(1)顶板螺纹连接,所述调节杆(4)上半部分伸出箱体外且外表面竖直方向标有刻度线,所述刻度线用于显示放置板(3)距离箱体(1)的距离。

4.根据权利要求2所述的多辐射单元天线测试箱,其特征在于,所述高度对比装置包括水平板(5)和两块支撑板(6),所述水平板(5)和两块支撑板(6)组成π形,所述水平板(5)与箱体(1)上表面平行,所述支撑板(6)用于将水平板(5)固定在箱体(1)上表面,所述水平板(5)上开有多个通孔,所述调节杆(4)上端穿过水平板(5)上的通孔。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的多辐射单元天线测试箱,其特征在于,所述测试箱主体为亚克力材料制成。

6.一种利用权利要求1所述的多辐射单元天线测试箱进行测试的方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤S1、将多个RFID标签放入测试箱主体底部,并将多辐射单元天线的多个辐射单元分别放在多个天线放置架上,将RFID阅读器放置在测试箱主体外部;

步骤S2、调节天线放置架的高度为第一高度并记录第一高度的数值,利用RFID阅读器进行RFID标签读取,并记下读取到的标签数量为第一数量;

步骤S2、调节天线放置架的高度为第二高度并记录第二高度的数值,利用RFID阅读器进行RFID标签读取,并记下读取到的标签数量为第二数量;

步骤S3、重复进行步骤S2,得到多个天线放置架高度值和对应的RFID标签的读取数量,计算天线放置架的高度值和RFID标签的读取数量对应关系。