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专利号: 2018103147129
申请人: 淮阴工学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.基于分波阵面干涉仪的光学相干层析成像装置,包括光源(1)、光学干涉仪(2)、光束扫描单元(3)、控制和数据采集单元(4)以及探测光谱仪(5),其特征在于:所述光学干涉仪(2)包括具有a端、b端、c端的光学环形器(7),以及第一准直透镜(8)、全反射分束镜(9)、参考臂;所述光源(1)发出的光进入光学环形器(7)的a端,从b端输出,穿过第一准直透镜(8)形成准直光束,所述全反射分束镜(9)的一部分镜面位于准直光束中,将准直光束分为两路分别进入参考臂和光束扫描单元(3);分别从参考臂和光束扫描单元(3)返回的参考光、样品光经第一准直透镜(8)形成光干涉信号进入光学环形器(7)的b端,从c端输出,所述控制和数据采集单元(4)利用探测光谱仪(5)采集光干涉信号的光谱得到图像,所述控制和数据采集单元(4)还向光束扫描单元(3)发送驱动信号。

2.如权利要求1所述的基于分波阵面干涉仪的光学相干层析成像装置,其特征在于:所述光源(1)与光学环形器(7)的a端之间还设置有偏振控制器(6)。

3.如权利要求1所述的基于分波阵面干涉仪的光学相干层析成像装置,其特征在于:所述参考臂由依次设置的光学玻璃平板(11)、参考臂透镜(12)、参考臂全反射镜(13)组成。

4.如权利要求1所述的基于分波阵面干涉仪的光学相干层析成像装置,其特征在于:所述全反射分束镜(9)为金属膜反射镜或介质膜全反射镜。