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专利号: 2018103663300
申请人: 浙江工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种用于微型化X射线阵列组合折射透镜集成组件的X射线光阑,其特征在于:所述X射线光阑包括整形部分和滤波部分,所述整形部分是指利用X射线光阑结构阻隔射入X射线阵列组合折射透镜之外的杂散光并对光束进行初步准直的结构;所述滤波部分是指X射线光阑结构中透光带和阻光带交替布置的滤波结构,并通过滤波结构将X射线光波分裂成多个子光束。

2.如权利要求1所述的用于微型化X射线阵列组合折射透镜集成组件的X射线光阑,其特征在于:所述透光带的数目为(M+1)个,M为正整数且为偶数,与所述X射线阵列组合折射透镜中组合折射透镜的数目相同。

3.如权利要求2所述的用于微型化X射线阵列组合折射透镜集成组件的X射线光阑,其特征在于:所述透光带和阻光带的宽度分别由下列公式计算得出:零级透光带T0,与X射线组合折射透镜的数值口径尺寸相同,正负一级透光带、正负二级透光带…,依此类推,透光带宽度表示为:θ为X射线阵列组合折射透镜的光轴与阵列中的正负一级X射线组合折射透镜的光轴夹角;

正负一级阻光带、正负二级阻光带…,依此类推,阻光带宽度表示为:

GM=L·tan(0.5M·θ)          (2)

其中L代表X射线组合折射透镜的几何长度,表示为L=N·l,其中,N代表X射线组合折射透镜中折射单元的个数,l为折射单元轴向厚度尺寸。

4.如权利要求1或2所述的微型化X射线阵列组合折射透镜集成组件的X射线光阑,其特征在于,所述X射线光阑选择吸收特性满足下列公式的任何材料,X射线波段材料的吸收系数:

其中NA代表阿伏伽德罗常数,r0代表电子半径,λ代表波长,A代表原子质量,f2代表原子散射因子,ρ代表电子密度,下标i代表化合物中的元素种类,当材料为单质是i=1;

所述X射线光阑的材料厚度t满足表达式e-β·t<<1。