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专利号: 201810366332X
申请人: 浙江工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种用于微型化X射线阵列组合折射透镜集成组件的X射线折光器,其特征在于,所述X射线折光器与X射线阵列组合折射透镜贴近放置,所述X射线折光器具有用于实现入射X射线光束整形的整形结构,所述整形结构是指X射线折光器对X射线阵列组合折射透镜中的正负一级组合透镜折光θ角度,对X射线阵列组合折射透镜中的正负二级组合透镜折光2θ角度,依此类推,最终实现对X射线阵列组合折射透镜中每一个单一组合折射透镜的类平行光入射。

2.如权利要求1所述的用于微型化X射线阵列组合折射透镜集成组件的X射线折光器,其特征在于,所述X射线折光器选择折射特性满足下列公式的任何单质或化合物材料,X射线波段材料的折射系数:其中,NA代表阿伏伽德罗常数,r0代表电子半径,λ代表波长,A代表原子质量,下标i表示化合物中的元素种类,下标j为正整数,ρ代表电子密度,下标i表示化合物中的元素种类,当材料为单质时i=1,v代表原子个数,下标i表示化合物中的元素种类,下标j为正整数,Z代表原子序数,下标i表示化合物中的元素种类。

3.如权利要求1或2所述的用于微型化X射线阵列组合折射透镜集成组件的X射线折光器,其特征在于,所述X射线折光器的非折光区材料厚度用tZ0表示,所述X射线折光器的非折光区宽度尺寸TZ=T0+2G2,T0为零级透光带的宽度;tZ0为非折光区的材料厚度,折光区的材料厚度tZM由下列公式计算得出:tZM=tZ0+TM·tan(0.5M·θ)      (2)。

其中,G2为正负二级阻光带的宽度,TM为透光带的宽度。