1.一种磁化矢量测量方法，测量装置主要包括光源、非球面镜I、非球面镜II、视场光阑、偏振器、非球面镜III、半透明反射镜、物镜、样品、样品台、磁体、旋转台、补偿器、检偏器、非球面镜IV、光电探测器、锁相放大器、步进电机、计算机，所述光源、非球面镜I、非球面镜II、视场光阑、偏振器、非球面镜III、半透明反射镜、物镜依次组成照明光路，所述物镜、半透明反射镜、补偿器、检偏器、非球面镜IV依次组成成像光路，样品位于样品台上，所述样品、样品台、旋转台依次位于物镜下方，光源发出的光依次经过非球面镜I、非球面镜II、视场光阑、偏振器、非球面镜III，被半透明反射镜转变为线偏振后偏向进入物镜，并汇聚到样品表面，被样品表面反射，样品表面的反射光经物镜汇集后依次经过半透明反射镜、补偿器、检偏器、非球面镜IV后进入光电探测器，所述磁体由正极和负极组成，样品台具有中心轴，样品台能够绕中心轴在水平面内旋转，所述磁体的正极和负极相对于样品台中心轴对称，磁体固定于旋转台上，并能够随旋转台绕样品台中心轴360度旋转，所述光源由四个成十字形排列的长方形LED灯组成，所述四个LED灯为灯I、灯II、灯III和灯IV，每个LED灯均连接有一根光纤，所述光纤的直径为1.5毫米，LED灯发出的光通过光纤引导至光源的输出端，每个LED灯输出功率均为150毫瓦，每个LED灯发出的光的波长均为600纳米，通过调整非球面镜I、非球面镜II、视场光阑和非球面镜III的位置，使得光源的输出端成像于物镜的背聚焦平面，其特征是，测量不同方向克尔灵敏度的方法为：

测量纯极向克尔灵敏度的方法：开启灯I、灯II、灯III和灯IV，处理光电探测器探测到的电流后得到磁畴图像；

测量竖直方向的纵向克尔灵敏度的方法：开启灯I和灯III，处理光电探测器探测到的电流后得到磁畴图像；

测量水平方向的纵向克尔灵敏度的方法：开启灯II和灯IV，处理光电探测器探测到的电流后得到磁畴图像；

抑制极向灵敏度的方法：以脉冲序列模式开启和关闭光源的LED，开启灯I两微秒后关闭，然后开启灯III两微秒后关闭，如此重复，并与光电探测器同步，处理光电探测器探测到的电流后，得到两组连续的具有相反入射角的图像，将两组图像相减，从而得到纯面内灵敏度；

获得多成分的成像的方法：交替地开启和关闭灯I和灯IV，开启灯I两微秒后关闭，然后开启灯IV两微秒后关闭，如此重复，能够在正交灵敏度条件下得到样品中的磁畴图案；

测量二次磁光克尔信号方法的步骤为：

一.初始时，样品易磁轴方向与光入射平面平行，将该易磁轴方向定义为样品角度γ＝

0；

二.将磁场方向调至沿光入射平面方向，此时的角度定义为磁场角度x＝0；

三.通过计算机控制步进电机以及锁相放大器，在某一个固定的样品角度γ记录光电探测器的电流，将电流作为磁场方向的函数，调节磁场方向，磁场角度x取值范围从0到360度，步进0.1度；

四.重复第三步骤五次，并对结果取平均，得到光电探测器的电流相对于磁场方向的变化；

五.旋转样品台，在样品角度γ范围0到180度，每隔10度都实施以上测量步骤三和步骤四；

六.二次磁光克尔信号分量的抽取，分离光电探测器测得的光强包括的线性和二次克尔信号，如果克尔角θ远小于检偏器的偏移角δ，测得的光强和克尔角之间的关系能够由表示，其中I0为克尔旋转为0时从样品表面反射的光强；

七.将得到的数据按照公式 拟合，从而得到

样品角度γ对应的Q1和Q2的值，进而求得样品的各向异性二次磁光耦合常数ΔG以及各项同性的磁光克尔耦合常数 其中Q1＝b+c×cos4γ，Q2＝c×sin4γ，a＝AK，K是线性磁光耦合常

数， 是入射角，n0为光在入射媒介中的折射率，n为光在磁化晶体中的折射率，G44为二次磁光耦合常数。