1.一种光电复合式破片群位置测试装置，其包括测试装置主体(17)、信号采集仪(15)和上位机(16)，其中，所述测试装置主体(17)沿着破片飞散方向并距战斗部炸点一定距离处设置，所述测试装置主体(17)通过电缆线与所述信号采集仪(15)相连接，所述信号采集仪(15)通过电缆线与所述上位机(16)相连接，所述测试装置还包括探测光幕单元和薄膜阵列测试单元，其中，所述探测光幕单元包括两个激光器(7)和三个光电探测器阵列(5)，所述激光器(7)和所述光电探测阵列(5)对应构成光幕并作为用于双线激光交汇的第一测试靶面，所述薄膜阵列测试单元布置在所述测试装置主体(17)中间并具有第二测试靶面。

2.根据权利要求1所述的光电复合式破片群位置测试装置，其附加技术特征在于，所述测试装置主体(17)为矩形框架并与水平面呈垂直布置，其包括第一边框(1)、第二边框(2)、第三边框(3)和固定框(11)。

3.根据权利要求2所述的光电复合式破片群位置测试装置，其附加技术特征在于，所述激光器(7)分别设置在所述测试装置主体(17)的下部两侧。

4.根据权利要求3所述的光电复合式破片群位置测试装置，其附加技术特征在于，所述激光器(7)通过激光器架(12)固定在所述测试装置主体(17)下部，所述激光器(7)的位置与所述第一测试靶面下边沿相距一定距离。

5.根据权利要求2所述的光电复合式破片群位置测试装置，其附加技术特征在于，所述光电探测器阵列(5)分别设置在所述第一边框(1)、所述第二边框(2)和所述第三边框(3)上，所述光电探测器阵列(5)包括若干个高灵敏度的光电传感器。

6.根据权利要求2所述的光电复合式破片群位置测试装置，其附加技术特征在于，所述薄膜阵列测试单元包括木板(22)和薄膜阵列(8)，所述薄膜阵列(8)粘附在所述木板(22)上。

7.根据权利要求6所述的光电复合式破片群位置测试装置，其附加技术特征在于，所述薄膜阵列(8)由若干开关薄膜相互拼接而成。

8.根据权利要求7所述的光电复合式破片群位置测试装置，其附加技术特征在于，每个所述开关薄膜包括上、下两个导体极板，在所述开关薄膜拼接形成所述薄膜阵列(8)后，所述薄膜阵列(8)中每一列的上极板(9)相互连接并引出第一信号线，所述薄膜阵列(8)中每一行的下极板(10)相互连接并引出第二信号线，所述上位机(16)对所述第一信号线和所述第二信号线进行编码处理。

9.根据权利要求1所述的光电复合式破片群位置测试装置，其附加技术特征在于，所述测试装置主体(17)的底部与两个底座(14)固定连接，两个所述底座(14)通过连接杆(13)相连接，在所述连接杆(13)上设置水平仪(21)，每个所述底座(14)上设有两组调节装置，每组所述调节装置包括调整旋钮(19)、螺柱(18)以及底脚(20)，所述调整旋钮(19)设置在所述螺柱(18)的顶端，所述螺柱(18)穿过所述底座(14)与所述底座(14)相连接并且随所述旋钮(19)的旋转上下移动。

10.一种光电复合式破片群位置测试方法，其采用上述任一项权利要求所述的测试装置，其包括以下步骤：

(1)在预定测试位置的弹道上，将测试装置主体(17)布置在距破片战斗部炸点一定距离处，测试装置主体(17)中的第一测试靶面面向炸点方向布置，观测水平仪(21)并通过调整旋钮(19)和底脚(14)，使得测试装置主体(17)处于水平状态；

(2)以一侧的激光器(7)的发光点为原点，以两个激光器(7)发光点的连线为x轴建立平面坐标系XOY，其中，设置两个激光器(7)发光点之间的距离为L，位于第一边框(1)上以及位于另一侧边框上的光电探测阵列(5)和一侧激光器(7)发光点分别在竖直方向和水平方向上的距离为L；

(3)当M枚破片穿过第一测试靶面时，每个激光器(7)通过M个破片在与激光器(7)对应的光电探测阵列(5)上留下M个投影，M个破片穿过薄膜阵列(8)形成的第二测试靶面对应的H个通道输出信号，其中2M大于H；

(4)信号采集仪(15)识别出M个破片通过每个激光器(7)在对应的光电探测阵列(5)上留下的投影的位置坐标和产生信号的开关薄膜的编号；

(5)分别连接每个激光器(7)的发光点和每一个破片投影点，形成2M条直线，从破片飞行方向上看，通过上位机(16)计算所有2M条直线的交点坐标并作为待选破片着靶点集，同时上位机(16)根据产生信号的开关薄膜的编号得到破片着靶位置范围；

(6)上位机(16)将待选破片着靶点集中每个坐标代入破片着靶位置范围，满足开关薄膜所得着靶坐标范围的交点坐标点即为破片着靶点，不满足即为伪目标，即得到M枚破片着靶坐标计算结果。