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专利号: 2018105776869
申请人: 天津理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于周期S型光纤锥的马赫曾德干涉仪,其特征在于:包括N个紧密连接的S型光纤锥,每个光纤锥的偏轴距离呈梯度变化。

2.根据权利要求1所述的干涉仪,其特征在于:所述的周期S型光纤锥的周期数是N,锥区总长度为L,偏轴总距离为d,其中,N=2~5个,L=0.9~2.5mm,d=100~600μm。

3.根据权利要求1所述的干涉仪,其特征在于:所述的周期S型光纤锥由单模光纤、少模光纤、细芯光纤、多模光纤、保偏光纤或微结构光纤拉制。

4.根据权利要求1所述的干涉仪,其特征在于:所述的周期S型光纤锥对折射率、微位移、应力和弯曲度变化有响应能力,与功能材料结合适用于温度、湿度、磁场和生物传感。

5.根据如权利要求1-4任一项所述基于周期S型光纤锥的马赫曾德干涉仪的制备方法,其特征在于:去除光纤的涂覆层,在光纤轴向N=2~5个位置分别进行熔融非轴向拉锥,每次熔融非轴向拉锥后形成单S型光纤锥区,相邻熔融位置的间隔小于一个单S型光纤锥区,且每个S型光纤锥拉制的偏轴距离均大于或均小于前一个S型光纤锥的偏轴距离。

6.根据权利要求5所述的干涉仪及其制备方法,其特征在于:光纤熔融通过电弧放电、火焰加热或激光加热方式实现。