1.一种手性光学器件，其特征在于，包括：基底和位于所述基底上的金属膜；其中，所述金属膜上设置有若干个贯穿于所述金属膜的上下表面且呈阵列排布的手性结构单元，所述手性结构单元包括：相邻设置的基础U型缝和增强C型缝。

2.如权利要求1所述的手性光学器件，其特征在于，所述基础U型缝和所述增强C型缝底部对齐，且所述基础U型缝和所述增强C型缝的高度相同。

3.如权利要求1所述的手性光学器件，其特征在于，所述手性结构单元在所述金属膜的横向和纵向上都均匀排列。

4.如权利要求1所述的手性光学器件，其特征在于，所述手性结构单元沿水平方向排列的第一周期的取值范围为400～1000nm。

5.如权利要求1所述的手性光学器件，其特征在于，所述手性结构单元沿垂直方向排列的第二周期的取值范围为400～1000nm。

6.如权利要求1所述的手性光学器件，其特征在于，所述手性结构单元沿水平方向排列的第一周期和沿垂直方向排列的第二周期长度相同。

7.如权利要求1所述的手性光学器件，其特征在于，所述基底的材料为透光材料。

8.如权利要求1所述的手性光学器件，其特征在于，所述金属膜的厚度取值范围为20nm～100nm。

9.如权利要求1所述的手性光学器件，其特征在于，所述基础U型缝与所述增强C型缝的间隔距离取值范围为30nm～50nm。