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专利号: 2018107809458
申请人: 杭州电子科技大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 计算;推算;计数
更新日期:2024-04-11
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种暗场显微大视场自动拼接成像方法,包括如下步骤:步骤一、设计一个暗场显微成像装置,装置主要由光学显微镜,标准光源以及红外激光装置构成;

步骤二、在设计完成的成像装置上进行二次成像,所获的子孔径图像分别为Mi和Ni,i=

1,2,3...n;

步骤三、针对于第二次成像,采用潜在目标检测分析的方法,找出潜在目标的位置并对其进行合理的拉伸操作;

步骤四、将两次成像后处理的图像进行加权融合;获得新的明暗凸显,背景均匀的子孔径图像Pi;

Pi(x,y)=(1‑Hi(x,y))×Mi(x,y)+Hi(x,y)×Ni(x,y)其中Pi代表最终所获得图像,Mi代表第一次所成的图像,其中每个点的权重为(1‑Hi),Ni代表第二次所成的图像,其对应的的权值为Hi;

步骤五、将新获得的子孔径图像Pi进行直接拼接,i=1,2,3...n;

步骤四中,基于两次成像的各自优势,通过提取出第二次成像的目标来替换第一次成像中相应的区域,以得到明亮凸显,背景均匀子孔径图像Pi,保证最后的拼接图像能够得到背景均匀无缝的大视场图像。

2.如权利要求1所述的暗场显微大视场自动拼接成像方法,其特征在于:步骤二中,保持标准光源与光学显微镜一起移动,以保证对于每次成像所给定的光照一致。

3.如权利要求1所述的暗场显微大视场自动拼接成像方法,其特征在于:步骤二中,第一次成像给定其恒定光源,恒定的曝光时间以及光圈,获得背景均匀的子孔径图像Mi,以保证在拼接时能够保证子孔径图像均匀过渡;第二次成像设定自定义曝光时间,以获得明亮凸显的子孔径图像Ni。

4.如权利要求1所述的暗场显微大视场自动拼接成像方法,其特征在于:步骤三中,假设输入子孔径图像为Ο,对于其中任意像素(x,y),将其通过带通滤波器处理后的绝对值作为对应像素处为显著性值:H(x,y)=|O(x,y)*G(r,σ1,σ2)|G(r,σ1,σ2)=g(r,σ1)‑g(r,σ2)*即为卷积符号,其中H为最终所要得到的显著性图,g(r,σ)为高斯函数;

G(r,σ1,σ2)为带通函数,具有低截止频率flow,高截止频率fhigh,这里σ1>σ2;其中g(r,σ)

2 2 2

为高斯函数,r=x +y ,σ是高斯函数的标准差;flow与fhigh分别由σ1与σ2决定;因此H也可以表示为H(x,y)=|O(x,y)*g(r,σ1)‑O(x,y)*g(r,σ2)|显著性图H表征图像的潜在目标存在于不同像素与区域的分布权重,其灰度范围[0,

1],值越大则越可能为目标区域,值越小则可能为背景区域。