1.一种用于调试微波腔体滤波器的方法，所述微波腔体滤波器具有若干调节螺钉，通过调节所述若干调节螺钉可改变所述微波腔体滤波器的耗散参数；其特征在于：所述方法包括以下步骤：S101：通过矢量网络分析仪，采集所述微波腔体滤波器的耗散参数S；

S102：通过矢量拟合法对所述耗散参数S进行拟合，得到所述耗散参数S的多项式系数，根据多项式系数对所述耗散参数S进行还原，得到测量参数Smea；

S103：根据所述微波腔体滤波器的设计指标，通过广义切比雪夫综合设计法得到理想obj的耗散参数S ；

S104：计算所述测量参数Smea与所述理想的耗散参数Sobj之间的差值函数F；

式中，a和b表示不同的权重因子，且a＞b， 和 分别表示传输测量参数和反射测量参数， 和 分别表示理想的传输参数和理想的反射参数，m和n均表示频率点个数；

S105：基于专家规则，根据螺钉的旋转方向调试所述若干调节螺钉，使得每调试完一次螺钉时，所述差值函数F都达到最小值，最终输出的耗散参数满足设计指标；具体的专家规则如下表所示：在初始调试的时候，P为给定旋转螺钉的初始方向，N是P的反方向，ΔF(t-1)表示上一时刻差值函数的变化量，ΔF(t)表示当前时刻差值函数的变化量，Δd(t)表示当前时刻旋转螺钉的螺杆的变化量，Δd(t+1)表示下一时刻旋转螺钉的螺杆的变化量。

2.如权利要求1所述的一种用于调试微波腔体滤波器的方法，其特征在于：在步骤S101中，所述耗散参数S包括传输参数S21和反射参数S11。

3.如权利要求1所述的一种用于调试微波腔体滤波器的方法，其特征在于：在步骤S102中，所述测量参数Smea包括传输测量参数 和反射测量参数 得到测量参数Smea的过程为：(1)得到超定方程Ax＝b，其中， b＝f(s)，其中，f(s)为拟合公式： 式中，cn是有理分式的留数，an是有理分式的

极点，d和h都是实数，s＝jω是多项式的频域变量；x由未知变量cn，d，h， 构成，(2)求解出超定方程，经过矢量拟合提取后，得到测量参数Smea：ai及ci分别是耗散参数S的极点和留数。

4.如权利要求1所述的一种用于调试微波腔体滤波器的方法，其特征在于：在步骤S103中，所述理想的耗散参数Sobj包括理想的传输参数 和理想的反射参数 所述微波腔体滤波器的设计指标包括：阶数N＝12，截止频率ω1＝0.885GHz，ω2＝0.96GHz，传输零点的位置Ftz＝[0.878j 0.966j]，回波损耗RL＝20dB；根据所述微波腔体滤波器的设计指标，求出所述耗散参数S的多项式系数E，P，F，再根据得到的多项式E，P，F求出耦合矩阵M，最后根obj据耦合矩阵M，得到理想的耗散参数S 。

5.如权利要求1所述的一种用于调试微波腔体滤波器的方法，其特征在于：调试所述若干调节螺钉的过程为：调试当前调节螺钉，当到达差值函数F最小值时，停止调试当前调节螺钉，依次调试下一个调节螺钉，直到所有调节螺钉调试完毕，输出的耗散参数满足设计指标。

6.一种存储设备，其特征在于：所述存储设备存储指令及数据用于实现权利要求1～5所述的任意一种用于调试微波腔体滤波器的方法。

7.一种用于调试微波腔体滤波器的设备，其特征在于：包括：处理器及权利要求6所述的存储设备；所述处理器加载并执行所述存储设备中的指令及数据用于实现权利要求1～5所述的任意一种用于调试微波腔体滤波器的方法。