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专利号: 2018108724071
申请人: 江苏理工学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种圆周孔位置尺寸误差检测工具,包括中心轴(1),其特征在于,所述中心轴(1)上设置有基准测量组件(2)和活动测量组件(3),所述基准测量组件(2)固定设置在中心轴(1)上,所述活动测量组件(3)可相对于中心轴(1)转动,所述基准测量组件(2)包括套设在中心轴(1)上的基准角度盘(21)和径向延伸的基准测量尺(22),所述活动测量组件(3)包括套设在中心轴(1)上的活动角度盘(31)和径向延伸的活动测量尺(32),所述活动角度盘(31)和所述活动测量尺(32)同步运动,所述基准角度盘(21)上设置有大刻度(211),所述活动角度盘(31)上设置有小刻度(311),所述基准角度盘(21)和所述活动角度盘(31)配合测量角度;

所述中心轴(1)为阶梯轴,所述中心轴(1)上由上到下依次设置有基准角度盘(21)、活动测量组件(3)和基准测量尺(22);

所述基准测量尺(22)通过第一连接块(23)设置在中心轴(1)上,所述第一连接块(23)固定套设在中心轴(1)上,所述基准测量尺(22)固定设置在第一连接块(23)上;

所述基准测量尺(22)水平设置,所述基准测量尺(22)与第一连接块(23)的侧壁固定连接,所述基准测量尺(22)上滑动设置有固定心轴(24);

所述固定心轴(24)平行于中心轴(1)轴线设置,所述固定心轴(24)的轴线、中心轴轴线和基准角度盘(21)上的零刻度位于同一平面上;

所述固定心轴(24)通过第一滑块(26)设置在基准测量尺(22)上,所述第一滑块(26)的靠近基准测量尺(22)上的第一大长度刻度(221)的上表面上设置有第一小长度刻度(261),所述第一小长度刻度(261)的零刻度线与固定心轴(24)的轴线对齐,所述第一小长度刻度(261)与第一大长度刻度(221)相配合;

所述活动角度盘(31)位于基准角度盘(21)的下方,所述活动角度盘(31)与基准角度盘(21)间隙配合,所述活动角度盘(31)的下方固定连接有第二连接块(33),所述第二连接块(33)可转动地套设在中心轴(1)上,所述活动测量尺(32)固定设置在第二连接块(33)上;

所述活动测量尺(32)竖直设置,所述活动测量尺(32)与第二连接块(33)的侧壁固定连接,所述活动测量尺(32)上滑动设置有锥形测头(34);

所述锥形测头(34)的轴线与平行于中心轴轴线设置,所述锥形测头(34)的轴线、中心轴轴线和活动角度盘(31)上的零刻度位于同一平面上;

所述锥形测头(35)通过第二滑块(36)设置在活动测量尺(36)上,所述第二滑块(36)可滑动地设置在活动测量尺(36)上,所述锥形测头(35)可伸缩地与所述第二滑块(36)连接;

所述第二滑块(36)的靠近活动测量尺(32)上的第二大长度刻度(321)的侧表面上设置有第二小长度刻度(361),所述第二小长度刻度(361)的零刻度线与锥形测头(34)的轴线对齐,所述第二大长度刻度(321)和第二小长度刻度(361)相配合。