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专利号: 2018109644125
申请人: 天津工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2023-09-13
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于开放腔法珀干涉仪的折射率测量方法,其特征在于:根据干涉仪输出光谱中参考波长位置处的目标自由光谱范围的大小、阶次与被测折射率的关系,跟踪指定阶次目标干涉谷的波长漂移位置,利用目标干涉谷波长与折射率的关系式计算出开放腔内介质的折射率;具体步骤如下:先用测量范围内一系列已知折射率的匹配液对开放腔法珀干涉仪进行标定,获取不同折射率下:目标自由光谱范围大小与阶次的关系式、目标干涉谷波长与被测折射率的关系式;然后将该开放腔法珀干涉仪用于实测,根据实测干涉谱中的目标自由光谱范围大小确定目标自由光谱范围的阶次,从而推断目标干涉谷的位置,最后利用已标定的目标干涉谷波长与折射率的关系式,计算出被测折射率的值。

2.根据权利要求1所述的一种基于开放腔法珀干涉仪的折射率测量方法,其特征在于:所述法珀干涉仪为双光束干涉的开放腔结构。

3.根据权利要求1所述的一种基于开放腔法珀干涉仪的折射率测量方法,其特征在于:所述参考波长指定为被测折射率达到测量最小值时法珀干涉仪干涉谱中任意一个干涉谷的波长。

4.根据权利要求1所述的一种基于开放腔法珀干涉仪的折射率测量方法,其特征在于:所述参考波长位置处的目标自由光谱范围是指与参考波长短波方向相邻波谷同阶次的自由光谱范围。

5.根据权利要求1所述的一种基于开放腔法珀干涉仪的折射率测量方法,其特征在于:所述指定阶次的目标干涉谷定义为被测折射率达到测量最小值时,干涉谱中参考波长短波方向相邻的干涉谷。