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专利号: 2018109795303
申请人: 西南交通大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-11-18
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.冲击负荷下套管电容芯子不均匀热老化的实验方法,其特征在于,包括以下步骤:第一步:搭建实验平台

搭建冲击负荷下套管电容芯子不均匀热老化实验平台,包括绝缘油箱(1)、第一支架(6a)、第二支架(6b)、测试端子(5)、电容芯子(4)、冲击电流发生装置(7)、介损测试仪(8)、终端机(11)、电动机(13),绝缘油箱(1)底部铺有第一冷却管(9),第一冷却管(9)两端分别有第一冷却箱(10a)和第二冷却箱(10b),第一冷却箱(10a)和第二冷却箱(10b)内的冷水(14)由电动机(13)推动,冷水(14)由第二冷却管(12)流经第一冷却箱(10a)、第一冷却管(9)和第二冷却箱(10b),回到第二冷却管(12),电动机(13)连至终端机(11),接受终端机(11)发送的控制指令,绝缘油箱(1)内填充绝缘油(2),油面高度超过电容芯子(4),电容芯子(4)由第一支架(6a)和第二支架(6b)固定在绝缘油箱(1)内,冲击电流发生装置(7)连至终端机(11),终端机(11)发送控制指令至冲击电流发生装置(7),冲击电流发生装置(7)连在导杆(3)两端,给导杆(3)施加冲击电流,电容芯子(4)每层电容屏之间焊接测试端子(5),测试端子(5)连至介损测试仪(8),介损测试仪(8)接至终端机(11);

第二步:模拟冲击负荷下的套管电容芯子

开启冲击电流发生装置(7),对套管电容芯子(4)施加冲击电流,模拟冲击负荷的热效应,终端机(11)控制电动机(13)使第二冷却管(12)内的冷水(14)流通,从而模拟套管电容芯子在冲击负荷下频繁升降温的实际工况;

第三步:测试工频介损

开启介损测试仪(8),测试电容芯子(4)相邻两层电容屏间的介质损耗正切值tanδ,并将测试数据上传至终端机(11)并以(i,tanδi)形式存储,表示电容芯子第i层间的介质损耗正切值为tanδi,i=1,2,…,n,n为电容芯子(4)层数;

第四步:拟合介质损耗正切值

通过非线性最小二乘法进行拟合,进而得到介质损耗正切值的拟合曲线f(x),其中1≤x≤n,n为电容芯子(4)层数;

第五步:计算电容芯子热老化不均匀程度

计算f(i)与f(i+1)间的积分Si、f(i+1)与f(i+2)间的积分Si+1,分别表示电容芯子(4)第i层与第i+1层的老化程度:计算两积分的差值ΔSi:

ΔSi=Si+1-Si                         (3)电容芯子总体不均匀热老化程度H进行计算,公式如下:

式中,ΔS0=min{|ΔS1|,|ΔS2|…|ΔSn-2|,|ΔSn-1|}。