1.一种自动确定最优入射光强的Z扫描测量方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，系统初始化：根据实际测量需要，以及激光器参数设置Z扫描装置中器件的初始值；

步骤2，预扫描：为确定最优的测量光强，对待测样品(23)进行预扫描；

步骤3，测量开孔、闭孔数据：测量相应的开孔透过曲线和闭孔透射曲线，以此来计算出待测样品的非线性吸收系数和非线性折射系数；

步骤4，监测部分：对于测量过程中遇到的影响因素进行监测，发现异常及时处理；

步骤5，数据处理：根据所测量的数据进行相应处理，得到所需的待测样品的非线性吸收系数和非线性折射系数；

所述步骤2的具体实现包括：

将所述的待测样品(23)置于电动平台(34)上，调整待测样品(23)的测量面垂直于主光轴，即z轴，第一汇聚透镜(22)的焦点处为z＝0；计算机(38)同时启动所述的电动平台(34)，衰减片控制器(31)，第三光电探测器(37)，所述的电动平台(34)用来改变待测样品(23)的位置，沿激光前进方向为正向，反方向为负向，所述的衰减片控制器(31)对电控激光衰减片(21)进行透过率连续的改变，所述的第三光电探测器(37)输出的光强信号为透射闭孔数据；所述的待测样品(23)在初始位置为z＝0处，所述的计算机(38)控制衰减片控制器(31)对电控激光衰减片(21)进行透过率连续的改变，透过率从0％连续改变至100％，与此同时计算机(38)同步采集第三光电探测器(37)输出的光强信号曲线I1(x)，其中x＝0,1,2,

3……，100，分别对应透过率0％，1％，2％......，100％；所述的计算机(38)控制电动平台(34)将所述的待测样品(23)移动至负向端点-10z0处，定义z0＝πω02/λ为光束共焦长度，其中λ为入射激光波长，ω0＝2λf/πd为激光束腰半径，f为第一汇聚透镜(22)的焦距，d为第一汇聚透镜(22)处的光斑直径；所述的计算机(38)控制衰减片控制器(31)对电控激光衰减片(21)进行透过率连续的改变，透过率从0％连续改变至100％，与此同时计算机(38)同步采集第三光电探测器(37)输出的光强信号曲线I2(x)，其中x＝0,1,2,3……，100，分别对应透过率0％，1％，2％......，100％；令T1(x)＝I1(x)/I2(x)，其中x＝0,1,2,3……，100，找出T1(x)＝0.95对应的点x0，通过所述的计算机(38)控制衰减片控制器(31)对电控激光衰减片(21)的透过率调节到x0％，此时入射到所述的待测样品(23)上的光强为此样品的最优入射光强。

2.根据权利要求1所述的一种自动确定最优入射光强的Z扫描测量方法，其特征在于，所述步骤1的具体实现包括：

根据实际测量需要，选择合适激光器，根据激光器自身参数调节第一偏振片(16)来控制入射到待测样品(23)的能量范围，同时调节第一可调衰减片(27)、第二可调衰减片(35)，保证在电控激光衰减片(21)透过率为100％的情况下，待测样品(23)和光电倍增管(28)、第三光电探测器(37)不会损坏；通过计算机(38)设置所述的光电倍增管(28)、第二光电探测器(30)、电动平台(34)、第三光电探测器(37)的采样频率、采样点数和激光器(1)同步工作；

根据实际样品发光波长通过计算机(38)设置光学多道分析仪(33)的光谱采集范围。

3.根据权利要求1所述的一种自动确定最优入射光强的Z扫描测量方法，其特征在于，所述步骤3的具体实现包括：

将所述的待测样品(23)置于电动平台(34)上，调整待测样品(23)的测量面垂直于所述的主光轴，即z轴，所述的第一汇聚透镜(22)的焦点处为z＝0；所述的计算机(38)控制同时启动光电倍增管(28)、电动平台(34)、第三光电探测器(37)，所述的待测样品(23)从负向端点-10z0处沿主光轴向正向移动，经过第一汇聚透镜(22)的焦点z＝0，运动范围20z0；所述的光电倍增管(28)，第三光电探测器(37)将探测的光强信号输送至计算机(38)处；采集的光电倍增管(28)，第三光电探测器(37)的输出光强信号分别为闭孔数据和开孔数据；以采集的光强值为纵坐标，z为横坐标，记录为闭孔曲线Ica(zn)和开孔曲线Ioa(zn)，其中n＝1,2,

3……,N，zn为各采样点的横坐标，z1～zn的坐标值对应为-10z0～+10z0，焦点处的横坐标值为zn＝0，N为采样点数。

4.根据权利要求1所述的一种自动确定最优入射光强的Z扫描测量方法，其特征在于，所述步骤4的具体实现包括：

第一光电探测器(29)发射出的激光脉冲波形输入至示波器(39)，示波器(39)将状态信息反馈给计算机(38)；根据示波器(39)呈现的信号可以监测由激光器(1)发射出的脉冲激光是否锁模完好，以此来判断由激光器(1)所发出的激光是否符合条件，如出现锁模异常，则判断此次Z扫描数据不可靠；第二光电探测器(30)将探测的光强信号实时输送至计算机(38)处，在Z扫描过程中，采集第二光电探测器(30)的输出光强信号为入射激光的功率监测曲线，如该曲线波动范围超过设定阈值，则判断此次Z扫描实验数据不可靠；若待测样品(23)为发光材料，则在Z扫描过程中可同时监测双光子荧光光谱，光学多道分析仪(33)将探测的光谱数据输送至计算机(38)处，采集到的所述的光谱数据横坐标为波长，纵坐标为光强，如在Z扫描过程中，特别是扫描至z＝0处附近时，双光子荧光光谱发生明显谱型变化，则判断此次Z扫描实验数据不可靠；如监测过程中出现上述异常，则系统自动放弃此次Z扫描数据，重新开始新的Z扫描的测量操作。

5.根据权利要求1所述的一种自动确定最优入射光强的Z扫描测量方法，其特征在于，所述步骤5的具体实现包括：

试验参数的确定：待测样品(23)处的入射光功率Ps可以通过第二光电探测器(30)所测量得到的光功率P2进行换算：Ps＝P2*9*x0％；对闭孔曲线Ica(zn)和开孔曲线Ioa(zn)n＝1,2,

3……,N，进行归一化处理；将上述两个曲线中的纵坐标值分别除以相应的z1处的纵坐标值，分别得到样品的归一化闭孔透射曲线Tca(zn)和Toa(zn)，其中n＝1,2,3……,N；取n0为N/

2的整数部分，令Tca(n0)和Toa(n0)对应的横坐标为0，也就是焦点处；

利用归一化透过率T(z)与实验参数的相关性，所述实验参数包括非线性折射系数γ、非线性吸收系数β、光束强度分布、光束时间特性、光波频率ω、孔径大小S、透镜焦距f、光束共焦长度z0、束腰半径w0、光功率密度I0、样品厚度L，在满足合理近似情况下，归一化透过率Tca(zn)写成如下式：

其中，x＝zn/z0是按共焦长度z0归一化了的无量纲位置参数，ΔΦ＝kγI0Leff为非线性折射引起的相移，k＝2πn0/λ为光波矢，γ为非线性折射系数，I0为入射光强，Leff＝[1-exp(-α0L)]/α0，为样品的有效长度，α0为材料的线性吸收系数；上式中只有一个γ为未知量，通过拟合得出非线性折射系数γ的值。

6.根据权利要求5所述的一种自动确定最优入射光强的Z扫描测量方法，其特征在于，步骤5的具体实现还包括：所述非线性吸收系数β由开孔情况下归一化的开孔透射曲线Toa(zn)，取焦点z0＝0处开孔透射率值Toa(0)，带入下式计算得到待测样品(23)的非线性吸收系数β：

其中，Leff＝[1-exp(-α0L)]/α0，为样品的有效长度，α0为材料的线性吸收系数，L为样品厚度，I0为入射光强。

7.根据权利要求1-6任一项所述的一种自动确定最优入射光强的Z扫描测量方法，其特征在于，所述步骤1-5的实现利用计算机编程实现一键操作，自动化测量。