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专利号: 2018110578567
申请人: 江苏大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-08-07
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种改进的Z扫描装置,其特征在于,包括:输出激光波长λ的激光器(1),沿所述的激光器(1)的激光输出的主光路构成的主光轴依次是第一小孔光阑(2)、第一反射镜(3)、第二反射镜(4)、第三反射镜(5)、第四反射镜(6)、第五反射镜(7)、第六反射镜(8)、第七反射镜(9)、第八反射镜(10)、第九反射镜(11)、第十反射镜(12)、第十一反射镜(13)、第十二反射镜(14)、第二小孔光阑(15)、斩波器(16)、第一偏振片(17)、第二偏振片(18)、第一激光分光镜(19)、第二激光分光镜(20)、电控激光衰减片(21)、第一汇聚透镜(22)、待测样品(23)、第三激光分光镜(24)、第三小孔光阑(25)、第二汇聚透镜(26)、第一可调衰减片(27)、光电倍增管(28);所述的光电倍增管(28)与计算机(38)相连;所述的第一激光分光镜(19)与主光轴成45°,在所述的第一分光镜(19)的反射光输出方向设置第一光电探测器(29),所述的第一光电探测器(29)与示波器(39)相连,所述的示波器(39)与计算机(38)相连;所述的第二激光分光镜(20)与主光轴成45°,在所述的第二分光镜(20)的反射光输出方向设置第二光电探测器(30),所述的第二光电探测器(30)与计算机(38)相连;所述的电控激光衰减片(21)与衰减片控制器(31)相连,所述的衰减片控制器(31)与计算机(38)相连;在待测样品附近设置光学多道分析仪探头,所述的光学多道分析仪探头(32)与光学多道分析仪(33)相连,所述的光学多道分析仪(33)与计算机(38)相连;所述的待测样品(23)置于电动平台(34)上,所述的电动平台与计算机(38)相连;所述的第三激光分光镜(24)与主光轴成45°,在所述的第三分光镜(24)的反射光输出方向依次设置第二可调衰减片(35)、第三汇聚透镜(36)、第三光电探测器(37),所述的第三光电探测器(37)与计算机(38)相连。

2.根据权利要求1所述的一种改进的Z扫描装置,其特征在于,所述的第一小孔光阑(2)、第二小孔光阑(15)直径均为5mm,第三孔径光阑(25)直径30mm。

3.根据权利要求1所述的一种改进的Z扫描装置,其特征在于,所述的斩波器(16)频率可调范围为4HZ至10KHZ。

4.根据权利要求1所述的一种改进的Z扫描装置,其特征在于,所述的第二偏振片(17)偏振方向为水平。

5.根据权利要求1所述的一种改进的Z扫描装置,其特征在于,第一激光分光镜(19)、第二激光分光镜(20)、第三激光分光镜(24)是对波长λ的激光透射率均为90%,反射率均为

10%的分光镜。

6.根据权利要求1所述的一种改进的Z扫描装置,其特征在于,所述的第一汇聚透镜(22)焦距为15cm,所述的第二汇聚透镜(26)、第三汇聚透镜(36)焦距均为10cm。

7.根据权利要求1所述的一种改进的Z扫描装置,其特征在于,所述的待测样品(23)厚度为1mm。

8.根据权利要求1-7任一项所述的一种改进的Z扫描装置,其特征在于,所述Z扫描装置的操作可以利用计算机编程实现一键完成自动化操作。