1.一种光纤包层SPR微弯曲传感器的标定装置，其特征在于：包括光纤包层SPR微弯曲传感器，所述光纤包层SPR微弯曲传感器包括注光光纤、传感光纤以及收光光纤；

所述注光光纤用于接收并传递输入光；

所述传感光纤外侧包裹金属薄膜，输入光在包层与金属薄膜界面发生全反射，倏逝场泄露至金属薄膜中并发生SPR现象，光信号再传输至收光光纤；

所述收光光纤用于接收并传递输出光；

传感光纤弯曲时，收光光纤接收的输出光SPR光谱共振谷深度与共振谷波长发生变化，通过反射光谱的变化来体现传感光纤的弯曲曲率；

所述注光光纤与所述传感光纤的连接处为偏芯连接，该处传感光纤的截面几何中心在注光光纤的截面上的投影与注光光纤截面的几何中心交集为零；

包括用于固定光纤包层SPR微弯曲传感器的固定板、用于观察光纤包层SPR微弯曲传感器的显微镜、用于为传感光纤提供输入光的光源、用于检测收光光纤输出光的光谱仪、以及用于传感光纤施力致其弯曲的微操手及微操手控制器；所述光纤包层SPR微弯曲传感器设置在固定板中，且传感光纤裸露；所述显微镜展示固定板上光纤包层SPR微弯曲传感器的状态；光源与注光光纤相连、光谱仪与收光光纤相连。

2.如权利要求1中所述的光纤包层SPR微弯曲传感器的标定装置，其特征在于：所述金属薄膜外侧旋涂紫外固化胶层。

3.如权利要求2中所述的光纤包层SPR微弯曲传感器的标定装置，其特征在于：所述紫外固化胶层为超低折紫外固化胶；所述金属薄膜的厚度为40-60nm，所述紫外固化胶层的折射率为1.34-1.36RIU。

4.如权利要求1中所述的光纤包层SPR微弯曲传感器的标定装置，其特征在于：还包括用于调整操作手高度的折叠台。

5.如权利要求1中所述的光纤包层SPR微弯曲传感器的标定装置，其特征在于：还包括用于放置固定板的操作台，所述操作台的高度可调。

6.如权利要求1中所述的光纤包层SPR微弯曲传感器的标定装置，其特征在于：所述固定板包括底板以及间隔设置在底板同侧的两个空心柱，两个空心柱之间的间隙用于放置传感光纤。

7.一种如权利要求1～6任一项中所述的光纤包层SPR微弯曲传感器的标定装置的使用方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1 将光纤包层SPR微弯曲传感器固定在固定板上；

S2 将固定板固定在显微镜载物台上，并调节显微镜目镜，使光纤包层SPR微弯曲传感器的传感光纤显示在显微镜目镜的视野中；

S3 使用微操手使传感光纤发生弯曲位移，每产生一定弯曲位移，便使用光谱仪记录一次反射光谱，保存反射光谱数据。

8.如权利要求7中所述的光纤包层SPR微弯曲传感器的标定装置的使用方法，其特征在于，还包括S4；

S4 使用软件对反射光谱进行处理，得到测试曲线。