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专利号: 2018110941476
申请人: 核工业华东二六三工程勘察院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-10-31
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于激光束发射的厚度测量平台,所述平台包括:

激光发射设备,设置在水平放置的玻璃方块的左侧,用于面向所述玻璃方块水平发射激光束,所述激光发射设备发射的激光束为第一激光束,所述激光发射设备发射的激光束中相邻激光束的间距相同;

激光接收设备,设置在水平放置的玻璃方块的右侧,用于面向所述玻璃方块水平接收激光束,所述激光接收设备接收的激光束为第二激光束;

激光匹配设备,分别与所述激光发射设备和所述激光接收设备连接,用于接收所述第一激光束和所述第二激光束,并将所述第一激光束的束数减去所述第二激光束的束数以获得相差束数,并基于所述相差束数确定对应的玻璃厚度;

高清摄像设备,设置在所述玻璃方块的上方,用于对所述玻璃方块进行高清拍摄以获得对应的高清方块图像。

2.如权利要求1所述的基于激光束发射的厚度测量平台,其特征在于:

椒盐识别设备,与所述高清摄像设备连接,用于接收所述高清方块图像,获得所述高清方块图像中各个像素点的各个灰度值,基于所述高清方块图像中各个像素点的各个灰度值确定所述高清方块图像中的各个椒盐噪声;

位置解析设备,与所述椒盐识别设备连接,用于基于所述高清方块图像的锐化程度对所述高清方块图像进行均匀式分区,以获得各个相同大小的图像分区,并基于所述高清方块图像中的各个椒盐噪声分别在所述高清方块图像中的各个位置确定每一个图像分区中的椒盐噪声的数量;

外形映射设备,与所述位置解析设备连接,用于接收所述高清方块图像中的各个图像分区中的椒盐噪声的数量,并针对每一个图像分区,基于其内部椒盐噪声的数量映射相应的滤波模板的径向长度,其中,内部椒盐噪声的数量越多,映射的相应的滤波模板的径向长度越长;

分区滤波设备,分别与所述椒盐识别设备和所述外形映射设备连接,用于接收每一个图像分区对应的滤波模板的径向长度,针对每一个图像分区执行以下滤波动作:基于所述图像分区对应的滤波模板的径向长度确定对应的滤波模板,采用所述对应的滤波模板对所述图像分区中各个像素点的各个灰度值进行滤波操作,以获得所述图像分区中各个像素点的各个滤波灰度值;

数据组合设备,与所述分区滤波设备连接,用于接收每一个图像分区中各个像素点的各个滤波灰度值,并基于每一个图像分区中各个像素点的各个滤波灰度值组合成所述高清方块图像对应的滤波图像;

低频滤除设备,与所述数据组合设备连接,用于接收所述滤波图像,滤除所述滤波图像中的低频成分,以获得相应的高频剩余图像;

阈值分割设备,与所述低频滤除设备连接,用于基于预设鼓起亮度阈值范围识别出所述高频剩余图像中的各个鼓起像素点,并去除所述各个鼓起像素点中的孤点以获得并输出鼓起区域;

光滑度识别设备,与所述阈值分割设备连接,用于基于所述鼓起区域的面积确定所述玻璃方块的表面光滑度。

3.如权利要求2所述的基于激光束发射的厚度测量平台,其特征在于:

在所述激光匹配设备中,基于所述相差束数确定对应的玻璃厚度包括:将所述相差束数与激光发射设备发射的激光束中的相邻激光束的间距相乘以获得所述玻璃厚度。

4.如权利要求3所述的基于激光束发射的厚度测量平台,其特征在于:

在所述分区滤波设备中,采用所述对应的滤波模板对所述图像分区中各个像素点的各个灰度值进行滤波操作包括:针对每一个像素点,采用以其为中心的滤波模板在所述高清方块图像中包括的各个像素点作为各个有效像素点,基于各个有效像素点的各个灰度值确定被进行滤波操作的像素点的滤波灰度值。

5.如权利要求4所述的基于激光束发射的厚度测量平台,其特征在于:

基于各个有效像素点的各个灰度值确定被进行滤波操作的像素点的滤波灰度值包括:将各个有效像素点的各个灰度值进行大小顺序排序,将中央序号的灰度值作为被进行滤波操作的像素点的滤波灰度值。

6.如权利要求5所述的基于激光束发射的厚度测量平台,其特征在于:

所述分区滤波设备包括像素值接收单元和像素值处理单元,所述像素值接收单元与所述像素值处理单元连接。

7.如权利要求6所述的基于激光束发射的厚度测量平台,其特征在于:

所述激光发射设备包括按键输入设备,用于接收检验人员输入的相邻激光束的间距。

8.如权利要求7所述的基于激光束发射的厚度测量平台,其特征在于,还包括:激光驱动设备,与所述激光发射设备连接,用于确定所述激光发射设备发射的激光束的束数。