1.一种芯片引脚光学检测系统，其特征在于，包括芯片发送器(1)、滑动导轨(2)、聚光室(4)、芯片(11)和成像镜头(9)，所述芯片发送器(1)设置在滑动导轨(2)的顶端，在滑动导轨(2)上沿着滑动导轨(2)方向设有滑槽(3)，滑槽(3)与芯片发送器(1)内部连通，聚光室(4)固定在滑动导轨(2)上，其位于芯片发送器(1)的下方，将一截滑动导轨(2)封闭，滑槽(3)从的聚光室(4)两侧穿过，被滑槽(3)穿过的聚光室(4)两侧设有通口(13)，通口(13)位于滑槽(3)上方，且在通口(13)上设有可升降遮光板(14)，在位于聚光室(4)内的滑槽(3)底部设有可伸缩阻挡块(7)，芯片(11)沿滑槽(3)滑下被阻挡在可伸缩阻挡块(7)上方，芯片(11)上的芯片引脚(12)垂直伸出滑槽(3)外，在聚光室(4)正对滑槽(3)的一面设有成像口(8)，成像口(8)正对芯片(11)和芯片引脚(12)，成像口(8)外部设有成像镜头(9)，成像镜头(9)与计算机连接，成像镜头(9)通过成像口(8)正对芯片(11)和芯片引脚(12)，在聚光室(4)内两侧壁上成对设置有聚光灯(10)，聚光灯(10)的位置高于芯片引脚(12)的顶端，聚光灯(10)的外部包围有拱形聚光壳(23)，拱形聚光壳(23)上设有第一束光筒(24)和第二束光筒(25)，第一束光筒(24)和第二束光筒(25)均与拱形聚光壳(23)内部连通，第一束光筒(24)的出射口正对其所在侧的芯片引脚(12)顶端，第二束光筒(25)出射口正对其对侧的芯片引脚(12)顶端，第一束光筒(24)和第二束光筒(25)的中轴线分别与其所对应的芯片引脚(12)的中轴线成45°～60°夹角。

2.根据权利要求1所述的一种芯片引脚光学检测系统，其特征在于，所述聚光室(4)、可升降遮光板(14)、可伸缩阻挡块(7)、和滑动导轨(2)的外表均涂有黑色涂层。

3.根据权利要求1所述的一种芯片引脚光学检测系统，其特征在于，所述滑槽(3)内涂有活塞石墨减摩涂层。

4.根据权利要求1所述的一种芯片引脚光学检测系统，其特征在于，在位于芯片发送器(1)和聚光室(4)之间的滑动导轨(2)上分别设有红外发射器(5)和红外接收器(6)，红外发射器(5)和红外接收器(6)隔着滑槽(3)正对设置。

5.根据权利要求1所述的一种芯片引脚光学检测系统，其特征在于，在滑动导轨(2)的底端对接有活动式导轨(15)，活动式导轨(15)内设有选择拦截块(16)，活动式导轨(15)的侧面设有推动装置(18)，活动式导轨(15)与推动装置(18)之间通过推动杆(19)连接，在活动式导轨(15)的背面设有横向轨道(17)，在活动式导轨(15)的底端分别设有合格芯片收集器(21)和不合格芯片收集器(22)，通过推动杆(19)的推动，活动式导轨(15)可在横向轨道(17)上分别移动至合格芯片收集器(21)和不合格芯片收集器(22)正上方。

6.根据权利要求1所述的一种芯片引脚光学检测系统，其特征在于，所述合格芯片收集器(21)和不合格芯片收集器(22)上均设有接收件(20)，接收件(20)与活动式导轨(15)形成对接。

7.根据权利要求1所述的一种芯片引脚光学检测系统，其特征在于，所述推动装置(18)为气压推动装置。

8.根据权利要求1所述的一种芯片引脚光学检测系统，其特征在于，所述拱形聚光壳(23)、第一束光筒(24)和第二束光筒(25)的内壁上均涂有反光涂层。

9.根据权利要求1所述的一种芯片引脚光学检测系统，其特征在于，所述成像镜头(9)为CCD镜头。

10.根据权利要求1所述的一种芯片引脚光学检测系统，其特征在于，所述通口(13)设置的高度高于芯片(11)从滑槽(3)内滑过时芯片引脚(12)的高度。