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专利号: 2018111766440
申请人: 南京信息工程大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 计算;推算;计数
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于四元数广义判别分析的RGB‑D目标识别方法,其特征是:包括基于四元数的RGB‑D图像表征方式、定义四元数广义判别分析、基于平均行和平均列的双向四元数广义判别分析识别方法,具体步骤如下:步骤1,基于四元数进行RGB‑D图像表征,具体步骤如下:采用四元数表征RGB‑D图像,对于一张RGB‑D图像,每个像素用函数g(u,v)表征为g(u,v)=gD(u,v)+gR(u,v)i+gG(u,v)j+gB(u,v)k式中,gD表示彩色图像所对应的深度图像,gR,gG,gB分别表示彩色图像的红色分量,绿色分量和蓝色分量,i,j,k分别表示满足如下规则的基本四元数单位:

2 2 2

i=j=k=‑1,ij=‑ji=k,jk=‑kj=i,ki=‑ik=j;

步骤2,定义四元数广义判别分析:步骤2‑1,假设四元数样本集X有C个类,每个类有Mc个样本;X在特征空间F中的类内散度矩阵SB和类间散度矩阵SW分别定义为:式中, 是样本集X中第c个类的样本均值,定义为:式中, 表示样本集X中第c个类的第s个样本;

步骤2‑2,四元数广义判别分析通过最大化类间距离和类内距离的比值,类间距离和类内距离用步骤2‑1中SB和SW来表示;最大化的过程看成寻找特征值λ和特征向量v,使其满足:步骤2‑3,将特征向量v看成样本X的非线性映射 和系数矩阵α的线性表示,式中,Xcs表示样本集X中c类样本集的第s个样本,αcs表示样本Xcs对应的系数矩阵;

步骤2‑4,对于SB和SW中的协方差矩阵,用四元数核矩阵Kx,x进行替代,Kx,x=k(X,X)=步骤2‑5,将对称四元数核矩阵Kx,x特征分解,K=PτP

T

式中,τ是关于Kx,x的非零特征值,P是τ对应标准化后的特征向量;并满足P P=I,I表示单位四元数矩阵;

步骤2‑6,步骤2‑2中的特征值λ重新表示为,式中,D表示一个对角块矩阵,每个对角块的大小是Mc×Mc,所有元素值为1/Mc;

T

令τPα为β,PDP为Υ,上式重新表示为:λβ=γβ

步骤2‑7,β和λ分别是Υ的特征向量和特征值;对Υ特征分解后,对于系数矩阵α,其和β有如下关系,

‑1

α=Pτβ

步骤2‑8,计算测试样本Xtest的投影矩阵YQGDA,步骤3,基于平均行和平均列的双向四元数广义判别分析识别对RGB‑D目标进行识别;

步骤3‑1,按照步骤1的方式,重新表征RGB‑D训练样本集X,并按照行和列两个方向分别计算RGB‑D样本集的平均行和平均列步骤3‑2,对样本集X求步骤2‑D所描述的四元数核矩阵δ δ

步骤3‑3,对四元数核矩阵 特征分解,得四元数核矩阵的特征值τ和特征向量P ,δ∈{row,col},构建对角矩阵D,D=(Dc)c=1,2,...,c式中,Dc表示第c个类的对角块,假设每个类有Mc个样本,则Dc的所有元素为1/Mc;

δ δ δ δ

步骤3‑4,将对角矩阵D和P重新组成γ,对γ特征分解,求其特征向量P和特征值λ,δ δ δ

γ=PDP

δ δ δ δ

根据 的特征值τ和特征向量P以及β计算系数矩阵α,δ δ δ‑1δ

α=P(τ) β;

步骤3‑5,计算训练样本的投影矩阵步骤3‑6,按照步骤2‑1的方式,重新表征RGB‑D测试样本集Z,并按照行和列两个方向分别计算RGB‑D样本集的平均行和平均列步骤3‑7,计算行方向和列方向关于训练样本 和测试样本 的四元数核矩阵步骤3‑8,结合 以及步骤3‑4中的系数矩阵αcs计算测样样本Z的投影矩阵步骤3‑9,对于训练样本和测试样本的投影矩阵 和 计算四元数欧式距离,对四元数欧式距离按照其方向最大值进行归一化操作,步骤3‑10,对于行和列两个方向的标准化距离进行特征融合,并将融合后的距离选择识别分类器进行分类。

2.根据权利要求1所述的一种基于四元数广义判别分析的RGB‑D目标识别方法,其特征在于:所述的步骤3‑2和步骤3‑7中核函数选择了多项式核函数,定义如下:b

k(Xs,Xt)=(Xs·Xt+c)其中,c和b是两个可调节参数,Xs和Xt则是样本s和样本t的向量表示。

3.根据权利要求1所述的一种基于四元数广义判别分析的RGB‑D目标识别方法,其特征在于:所述的步骤3‑10中识别分类器选择了最小路径分类器,分类器的定义如下:从而测试样Zt归属于训练样本 所在的类。