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专利号: 2018112639936
申请人: 浙江工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2023-12-11
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种表征铌酸锂晶体微观结构变化的方法,其特征在于,包括:

(1)采用X射线衍射和/或透射电子显微镜对铌酸锂晶体的空白样品和磨削样品进行测试,得到相应样品的晶体结构;

(2)对铌酸锂晶体的空白样品和磨削样品进行X射线光电子能谱测试,根据测试结果分别计算各样品的铌酸锂晶体中;

(3)根据所述的Li/Nb,建立相应铌酸锂晶体的模型并进行分子动力学模拟,得到相应铌酸锂晶体的均方差位移;

(4)结合所述的晶体结构和相应铌酸锂晶体的均方差位移来表征铌酸锂晶体微观结构的变化。

2.根据权利要求1所述的表征铌酸锂晶体微观结构变化的方法,其特征在于,将空白样品和磨削样品切成圆片,用砂纸将其厚度打磨至15~25μm,再在液氮保护下离子减薄至

200nm以下后,再进行透射电子显微镜测试分析。

3.根据权利要求1所述的表征铌酸锂晶体微观结构变化的方法,其特征在于,X射线衍射测试的参数条件为:工作电压为40KV;工作电流为40mA;扫描角度为10~80°;步长为

0.033°。

4.根据权利要求1所述的表征铌酸锂晶体微观结构变化的方法,其特征在于,X射线光电子能谱测试的参数条件为:宽谱步长为1eV,停留时间为100ms,通能为160eV;窄谱步长为

0.05eV,停留时间为200ms,通能为20eV。

5.根据权利要求1所述的表征铌酸锂晶体微观结构变化的方法,其特征在于,在进行X射线光电子能谱测试时,收集Nb 4s轨道和Li 1s轨道信号。

6.根据权利要求1、4或5任一项所述的表征铌酸锂晶体微观结构变化的方法,其特征在于,在进行X射线光电子能谱测试时,采集多点的轨道信号,求取平均值作为测试结果。

7.根据权利要求1所述的表征铌酸锂晶体微观结构变化的方法,其特征在于,采用Materials Studio软件建立铌酸锂晶体的模型;采用Materials Studio中的Forcite模块进行分子动力学模拟。

8.根据权利要求7所述的表征铌酸锂晶体微观结构变化的方法,其特征在于,进行分子动力学模拟的参数条件为:系综为NPT,模拟时间为500ps,模拟步长为1.0fs,(100)方向施加压力为2×106pa,力场采用Universal force field。