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专利号: 2018114951778
申请人: 淮阴工学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种封闭式双极电极阵列的分析检测装置,其特征在于,包含多个功能和结构均相同的封闭式双极电极及其驱动电极系统构成的平行阵列,每个所述封闭式双极电极及其驱动电极系统均包括:位于基片(1)上方且相互隔离的双极电极基底(2)、采集信号的驱动电极基底A(3)和提供稳定电位的驱动电极基底B(4),以及位于三者之上的薄膜(13),在所述薄膜(13)之上覆盖有盖片(5),在所述盖片(5)上开设至少一对相互隔离的信号池(6)和检测池(7),所述信号池(6)中采集信号的驱动电极A(8)与所述驱动电极基底A(3)连接,所述信号池(6)中提供稳定电位的双极电极端点A(9)和所述检测池(7)中待测物质发生反应的双极电极端点B(10)均与所述双极电极基底(2)连接,所述检测池(7)中提供稳定电位的驱动电极B(11)与所述驱动电极基底B(4)连接;所述驱动电极基底A(3)和所述驱动电极基底B(4)通过导线与电源(12)连接。

2.根据权利要求1所述的封闭式双极电极阵列的分析检测装置,其特征在于:所述薄膜(13)的厚度为0.1mm,所述盖片(5)的厚度为5mm。

3.根据权利要求1所述的封闭式双极电极阵列的分析检测装置,其特征在于:所述双极电极端点A(9)和所述驱动电极B(11)均为Ag/AgCl电极、大尺寸的极化电极或大尺寸的常规电极。

4.根据权利要求1所述的封闭式双极电极阵列的分析检测装置,其特征在于:所述驱动电极A(8)和所述双极电极端点B(10)均由铟锡氧化物或金或铂或导电碳材料制成。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的封闭式双极电极阵列的分析检测装置,其特征在于:所述双极电极基底(2)、驱动电极基底A(3)和驱动电极基底B(4)均由铟锡氧化物或金或铂或导电碳材料制成。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的封闭式双极电极阵列的分析检测装置,其特征在于:所述驱动电极A(8)和所述双极电极端点B(10)均为极化电极,所述双极电极端点A(9)和所述驱动电极B(11)均为非极化电极。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的封闭式双极电极阵列的分析检测装置,其特征在于:所述薄膜(13)和所述盖片(5)由高分子聚合物材料制成,所述高分子聚合物材料为以下任意一种:聚二甲基硅氧烷PDMS、聚丙烯薄膜BOPP、聚酯薄膜PET或聚丙烯薄膜CPP。

8.根据权利要求1至4中任一项所述的封闭式双极电极阵列的分析检测装置,其特征在于:所述基片(1)为玻璃、纸或塑料。

9.根据权利要求1至4中任一项所述的封闭式双极电极阵列的分析检测装置,其特征在于:所述信号池(6)和所述检测池(7)为五对。