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专利号: 2018115331166
申请人: 衡阳师范学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

218 218

1.采用多探测器提高氡析出率测量仪对 Po收集效率的测量腔提高对 Po的收集效218

率的测量方法,基于多探测器提高氡析出率测量仪对 Po收集效率的测量腔,包括腔体、绝缘端盖、半导体探测器及金属滤网;

腔体为两端开口的圆柱形,其内壁为导电层,金属滤网安装在腔体的底部,并与导电层的底部端面紧密接触,腔体内腔高度为6‑25厘米;

复数个半导体探测器呈环形安装绝缘端盖上,形成第一环形测量圈,在第一环形测量圈上,相邻两个半导体探测器的中心距离为6‑15厘米,半导体探测器的中心离腔体内璧导电层的距离为6‑15厘米;

绝缘端盖通过螺钉固定在腔体的开口端,在绝缘端盖上,围绕着第一环形测量圈,增设有由复数个半导体探测器组成的复数个环形测量圈,环形测量圈的间隔距离分别为6‑15厘米,环形测量圈上相邻两个半导体探测器的中心距离为6‑15厘米,最外圈环形测量圈上半导体探测器的中心离腔体内璧导电层的距离为6‑15厘米;

其特征是:

A、将每个环形测量 圈上的半导体探测器分别通过导线串联在一起,串联后的半导体探测器分别通过导线与高压模块及二次仪表连接,腔体内壁的导电层通过导线与高压模块连接,将测量腔放入氡室,氡室内的含氡空气通过测量腔腔体底部的金属滤网进入腔体,使得腔体内的氡浓度与氡室内的氡浓度相同;

B、通过高压模块分别调节每个环形测量圈上半导体探测器与腔体内导电层之间电压,218

利用二次仪表分别得到每个环形测量圈上半导体探测器测量到的 Po衰变计数率,计数率随电压的升高而升高,当继续调高电压而计数率基本不变时,停止调节半导体探测器与导电层之间电压;

C、测量腔调整好后,将测量腔直接紧扣在待测介质表面上,待测介质表面析出的氡通过金属滤网滤除带正电的氡子体后进入测量腔,通过二次仪表测量测量腔内的氡浓度变化规律,然后通过数据拟合计算出氡析出率。