1.一种射频读写器，其特征在于，包括：主控模块、本振模块、解析模块、环形器、第一耦合器、第二耦合器，测试信号生成模块，射频发射模块和载波对消模块，其中，所述测试信号生成模块，用于接收所述主控模块发送的伪随机序列，和所述本振模块发送的本振信号，并将所述伪随机序列变频到与所述本振信号相同的频段，得到调制信号；

所述测试信号生成模块，还用于执行第一操作，所述第一操作包括：根据从所述主控模块接收到的第一控制信息对所述调制信号的衰减量进行调整，得到调整后的测试信号，并将调整后的测试信号发送至与所述测试信号生成模块连接的第一耦合器中，其中，所述第一耦合器与环形器连接；

所述主控模块，用于接收所述解析模块对第一合成信号的解析结果，并根据所述解析结果确定所述测试信号的误码率，并在所述误码率不满足预设条件的情况下，指示所述测试信号生成模块循环执行所述第一操作，以使所述误码率满足预设条件，在满足预设条件的误码率所对应的多个测试信号中，选择出功率最小的测试信号，其中，所述第一合成信号包括：对消后的载波信号和所述第一耦合器输入至所述第二耦合器的第二合成信号，其中，所述第二合成信号包括：隔离后的载波信号和所述测试信号生成模块发送至所述第一耦合器的所述测试信号；

所述射频发射模块，用于将从所述本振模块接收到的所述本振信号转化为载波信号，并将所述载波信号分别发送至所述环形器和所述载波对消模块；

所述环形器用于对所述载波信号进行隔离后，输出所述隔离后的载波信号；

所述载波对消模块，用于对所述载波信号进行对消后，生成所述对消后的载波信号。

2.根据权利要求1所述的射频读写器，其特征在于，所述测试信号生成模块，包括：衰减器、PIN管、调节模块，其中，所述衰减器，与所述PIN管连接，用于对所述测试信号生成模块接收到的所述调制信号进行衰减，得到衰减信号，并将所述衰减信号发送至所述PIN管；

所述调节模块，用于从所述主控模块接收所述第一控制信息，并根据所述第一控制信息所指示的衰减量指示所述PIN管对接收到的衰减信号进行衰减，得到所述测试信号。

3.根据权利要求2所述的射频读写器，其特征在于，所述测试信号生成模块，还包括：第一开关、第二开关，其中，所述第一开关和所述第二开关，用于接收所述主控模块发送的第二控制信息，其中，所述第二控制信息用于指示所述第一开关与所述衰减器连接，以及所述第二开关与所述PIN管连接，以使所述第一开关、所述衰减器、所述PIN管、所述第二开关导通。

4.根据权利要求3所述的射频读写器，其特征在于，所述测试信号生成模块，还包括：第一负载，第二负载，其中，所述第一开关和所述第二开关，用于接收所述主控模块发送的第三控制信息，其中，所述第三控制信息用于指示所述第一开关与所述第一负载连接，所述第二开关与所述第二负载连接。

5.根据权利要求1所述的射频读写器，其特征在于，还包括：

所述第二耦合器用于接收所述第一耦合器发送的所述第二合成信号，和所述载波对消模块发送的所述对消后的载波信号，并合成所述第二合成信号和所述对消后的载波信号得到所述第一合成信号；

其中，所述第二合成信号是由所述第一耦合器对所述环形器发送的隔离后的载波信号和所述测试信号生成模块发送的所述测试信号进行合成后得到的信号。

6.一种测试信号的选择方法，其特征在于，应用于权利要求1至5中任一项的射频读写器，其特征在于，包括：主控模块向测试信号生成模块发送第一控制信息，以使所述测试信号生成模块在所述第一控制信息的指示下执行所述第一操作；

主控模块接收解析模块对第一合成信号的解析结果，并根据所述解析结果确定所述测试信号的误码率，在所述误码率不满足预设条件的情况下，指示所述测试信号生成模块循环执行所述第一操作，以使所述误码率满足预设条件，在满足预设条件的误码率所对应的多个测试信号中，选择出功率最小的测试信号。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，包括：

所述主控模块向第一开关和第二开关发送第二控制信息，其中，所述第二控制信息用于指示所述第一开关与衰减器连接，以及所述第二开关与PIN管连接，以使所述第一开关、所述衰减器、所述PIN管、所述第二开关导通，其中，所述测试信号生成模块包括：所述第一开关、所述第二开关、所述衰减器、所述PIN管。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，包括：

所述主控模块向所述第一开关和所述第二开关发送第三控制信息，其中，所述第三控制信息用于指示所述第一开关与第一负载连接，所述第二开关与第二负载连接，其中，所述测试信号生成模块包括：所述第一负载、所述第二负载。

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行所述权利要求6至8任一项中所述的方法。