1.一种碳膜片阻值精度分检系统，其特征在于，包括：处理器模块、阻值检测机构以及分流机构；其中

所述处理器模块适于控制所述阻值检测机构对被测碳膜片的阻值进行检测，并根据检测结果控制所述分流机构对不同阻值精度的被测碳膜片进行分流。

2.如权利要求1所述的碳膜片阻值精度分检系统，其特征在于，所述阻值检测机构包括：进料口、碳膜片滑轨以及出料口；

被测碳膜片从所述进料口进料后依次排列在所述碳膜片滑轨上，在所述出料口设置有与所述处理器模块电性相连的检测装置，所述检测装置适于对所述被测碳膜片的阻值进行检测。

3.如权利要求2所述的碳膜片阻值精度分检系统，其特征在于，所述检测装置包括：与所述处理器模块电性相连的光电开关，位于所述碳膜片滑轨上、下方的上、下探针头，以及两探针头分别由相应气缸驱动；即当所述光电开关检测到被测碳膜片进入检测位置时，所述处理器模块控制气缸带动上、下探针头相向运动触及被测碳膜片以测出其阻值。

4.如权利要求2所述的碳膜片阻值精度分检系统，其特征在于，所述进料口连接有上料用振动盘；以及

位于出料口处设有出料推板，所述出料推板适于采用由处理器模块控制的气动机构执行推料动作。

5.如权利要求2所述的碳膜片阻值精度分检系统，其特征在于，所述分流机构包括：错层设置的第一、第二分流板，两分流板均由相应转动装置驱动，以及位于分流机构的底部设有至少三种分类仓；

所述处理器模块适于根据测出的阻值控制相应转动装置带动第一分流板和/或第二分流板转动一定角度，以使被测碳膜片在下落过程中经过第一分流板和/或第二分流板引导掉落至相应分类仓内。