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矩阵电容板及芯片测试方法
面议
专利号： 2018800001778
申请人： 深圳市汇顶科技股份有限公司
专利类型：其他
专利状态：已下证
专利领域： 测量；测试
更新日期：2024-08-27
缴费截止日期： 暂无
摘要:
权利要求书:
推荐专利基于矩阵电容板的触控芯片测试系统及其测试方法
发明专利
面议
集成电路芯片测试仪
实用新型
￥2600
一种高通量、超灵敏检测的点阵阵列增强芯片
发明专利
面议
一种用于测试IC芯片的PCB板
实用新型
￥2700
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