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专利号: 2019100018648
申请人: 长江大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-26
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种灰岩颗粒滩微相识别方法,其特征在于,包括:根据岩心和薄片资料建立灰岩颗粒滩不同微相的识别图版,构建标准钻井的灰岩颗粒滩不同微相GR响应模板,根据所述标准钻井的灰岩颗粒滩GR曲线,标准化非标准钻井的GR曲线;

将非标准钻井的标准化后的GR曲线,与标准钻井的GR响应模板进行比对,划分非标准钻井的灰岩颗粒滩微相;

所述根据所述标准钻井的灰岩颗粒滩GR曲线,标准化非标准钻井的GR曲线,包括:GRsa=S1+(GRa-W1a)/Ra

Ra=(W1a-W2b)/(S2-S1)

其中,GRsa为标准化后的非标准钻井GR,GRa为标准化前的非标准钻井GR,S1为标准钻井的高能灰岩颗粒滩微相的平均GR,S2为标准钻井的滩间海微相的平均GR,W1a为非标准钻井的高能灰岩颗粒滩微相的平均GR,Ra为非标准钻井的标准化参数,W2b为非标准钻井的滩间海微相的平均GR。

2.根据权利要求1所述的灰岩颗粒滩微相识别方法,其特征在于,所述灰岩颗粒滩的不同微相的识别图版的种类,包括:高能灰岩颗粒滩的薄片识别图版、中能灰岩颗粒滩的薄片识别图版和低能灰岩颗粒滩的薄片识别图版。

3.根据权利要求2所述的灰岩颗粒滩微相识别方法,其特征在于,所述高能灰岩颗粒滩的薄片识别图版的成分,包括:薄片中颗粒含量大于70%、颗粒直径0.2mm至1.5mm、磨圆度次圆状至圆状和颗粒间为亮晶方解石且无泥晶基质;

岩心中包括块状层理、平行层理和/或交错层理。

4.根据权利要求2所述的灰岩颗粒滩微相识别方法,其特征在于,所述中能灰岩颗粒滩的薄片识别图版的成分,包括:薄片中颗粒含量大于60%、颗粒直径0.1mm至1mm、磨圆度次棱状和颗粒间包括泥晶基质;

岩心中包括水平纹层。

5.根据权利要求2所述的灰岩颗粒滩微相识别方法,其特征在于,所述低能灰岩颗粒滩的薄片识别图版的成分,包括:薄片中主要为泥晶基质、颗粒含量小于30%、颗粒直径0.02mm至0.1mm;

岩心中包括水平纹层。

6.根据权利要求1所述的灰岩颗粒滩微相识别方法,其特征在于,所述构建标准钻井的灰岩颗粒滩不同微相GR响应模板,包括:对所述灰岩颗粒滩的薄片识别图版和标准钻井的GR曲线进行分析,确定不同微相的GR响应模板。

7.一种灰岩颗粒滩微相识别装置,其特征在于,包括:测井响应曲线获取模块,用于根据岩心和薄片资料建立灰岩颗粒滩不同微相的识别图版,构建标准钻井的灰岩颗粒滩不同微相GR响应模板,根据所述标准钻井的灰岩颗粒滩GR曲线,标准化非标准钻井的GR曲线;

灰岩颗粒滩微相获取模块,用于将非标准钻井的标准化后的GR曲线,与标准钻井的GR响应模板进行比对,划分非标准钻井的灰岩颗粒滩微相;

所述根据所述标准钻井的灰岩颗粒滩GR曲线,标准化非标准钻井的GR曲线,包括:GRsa=S1+(GRa-W1a)/Ra

Ra=(W1a-W2b)/(S2-S1)

其中,GRsa为标准化后的非标准钻井GR,GRa为标准化前的非标准钻井GR,S1为标准钻井的高能灰岩颗粒滩微相的平均GR,S2为标准钻井的滩间海微相的平均GR,W1a为非标准钻井的高能灰岩颗粒滩微相的平均GR,Ra为非标准钻井的标准化参数,W2b为非标准钻井的滩间海微相的平均GR。

8.一种电子设备,其特征在于,包括:

至少一个处理器、至少一个存储器、通信接口和总线;其中,所述处理器、存储器、通信接口通过所述总线完成相互间的通信;

所述存储器存储有可被所述处理器执行的程序指令,所述处理器调用所述程序指令,以执行如权利要求1至6任一项所述的方法。

9.一种非暂态计算机可读存储介质,其特征在于,所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令,所述计算机指令使所述计算机执行如权利要求1至6中任一项所述的方法。