1.一种基于高光谱技术的绝缘子表面含水量的检测方法，包括以下步骤：

A、已知含水量的高光谱谱线的获取

在输配电系统中拆取I个绝缘子i，并使绝缘子i的表面含水量为Si，用高光谱成像仪拍摄绝缘子i，得到表面含水量Si的高光谱图像X”i，X”i＝[x”i,1,x”i,2,…,x”i,n,…,x”i,N]，其中，i为绝缘子的序号，i＝1,2,3……I，I为绝缘子的个数、其取值为10-500，n为表面含水量Si的高光谱图像X”i中的特征波段的序号、n＝1,2,3……N，N为特征波段的总个数，其取值为10-100，x”i,n为表面含水量Si的高光谱图像X”i中第n个特征波段下的反射率；

对表面含水量Si的高光谱图像X”i，进行黑白校正、多元散射校正、平滑去噪，得到表面含水量Si的高光谱谱线Xi＝[xi,1，xi,2，xi,3，…，xi,n，…，xi,N]；其中，xi,n为表面含水量Si的高光谱谱线Xi中的第n个特征波段下的反射率；

B、含水量BP神经网络预测模型的建立

将表面含水量Si的高光谱谱线Xi中的第n个特征波段下的反射率xi,n，作为BP神经网络预测模型的输入层对应神经元的输入值，通过隐含层的S型传递函数作用后，输出层输出绝缘子i的含水量输出值 并将绝缘子i的含水量输出值 与绝缘子i的表面含水量Si的差值Ei， 作为预测误差进行误差反传，进行BP神经网络预测模型的学习训练，直至误差平方和E， 达到最小时，其中， 表示从i＝1项到i＝I项的累计求和；

得到含水量BP神经网络预测模型；

C、绝缘子表面含水量的检测

用高光谱成像仪对输配电系统运行中的待测绝缘子进行拍摄，得到待测绝缘子的高光谱图像X”0，X”0＝[x”0,1,x”0,2,…,x”0,n,…,x”0,N]；其中，x”0,n为待测绝缘子的高光谱图像X”0中第n个特征波段下的反射率；

对待测绝缘子的高光谱图像X”0进行黑白校正、多元散射校正、平滑去噪，得到待测绝缘子的高光谱谱线X0,X0＝[x0,1，x0,2，x0,3…，x0,n，…，x0,N]，其中，x0，n为待测绝缘子的高光谱谱线X0中的第n个特征波段下的反射率；

将待测绝缘子的高光谱谱线X0中的第n个特征波段下的反射率x0，n作为含水量BP神经网络预测模型的输入层对应神经元的输入值进行输入，通过隐含层的S型传递函数作用后，输出层输出的含水量输出值 即为待测绝缘子的表面含水量S0。

2.根据权利要求1所述的一种基于高光谱技术的绝缘子表面含水量检测方法，其特征在于，所述的高光谱仪的光波段范围为400-2500nm。

3.根据权利要求1所述的一种基于高光谱技术的绝缘子表面含水量检测方法，其特征在于：所述的步骤A中使绝缘子i的表面含水量为Si的具体操作是：称量绝缘子i的干燥重量mi2；再利用人工雾室加湿绝缘子i，并称量绝缘子i的加湿后重量mi1再将绝缘子i冲洗干净、晾干，称量绝缘子i的晾干重量mi3；得到绝缘子i的表面含水量Si，Si＝(mi1-mi2)/(mi2-mi3)。

4.根据权利要求1所述的一种基于高光谱技术的绝缘子表面含水量的检测方法，其特征在于，所述的对表面含水量Si的高光谱图像X”i，进行黑白校正的具体做法是：用高光谱成像仪对标准白板进行拍摄得到标准白板的反射图像W，W＝[w1,w2,w3,…,wn,…,wN]，其中wn为标准白板的反射图像中第n个特征波段下的反射率；同时，用高光谱成像仪对标准黑板进行拍摄得到标准黑板的反射图像D，D＝[d1,d2,d3,…,dn,…,dN]，其中，dn为标准黑板的反射图像中第n个特征波段下的反射率；再结合表面含水量Si的高光谱图像X”i，X”i＝[x”i,1,x”i,2,…,x”i,n,…,x”i,N]，由下式得到表面含水量Si的校正后高光谱图像X’i，其中，x’in为表面含水量Si的校正后高光谱图像中第n个特征波段下的反射率。

5.根据权利要求4所述的一种基于高光谱技术的绝缘子表面含水量的检测方法，其特征在于，所述的多元散射校正的具体作法是：由表面含水量Si的校正后高光谱图像X’i＝[x’i,1,x’i,2,x’i,3,…,x’i,n,…,x’i,N]，计算出平均高光谱图像 其中，为平均高光谱图像 中第n个特征波段下的平均反射率, 表示从i＝1项到i＝I项的累计求和；

将表面含水量Si的校正后高光谱图像X’i与平均高光谱图像 进行一元线性回归，得到表面含水量Si的校正后高光谱图像X’i与平均高光谱图像 的线性回归关系式，式中mi和bi分别是线性回归的相对偏移系数和平移量；进而得到表面含水量Si的多元散射校正光谱 其中，

为表面含水量Si的多元散射校正光谱 中的第n个特征波段下的多元散射校正反射率。