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专利号: 2019101513093
申请人: 重庆邮电大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种测量射电望远镜主天线的反射面连接点变形的阵列光电系统,其特征在于:用于测量射电望远镜PT-70主天线反射面连接点的变形,包括位于PT-70主天线基环(3)上的

24个基本单元(1),以及固定在若干PT-70主天线反射面连接点上的红外激光光源(2);所述基本单元(1)在子午面和弧矢面的视场分别为62º和16º;

所述基本单元(1)包括一个带有紧固件(1-2)的物镜(1-1)、带有调节装置(1-3)的CMOS阵列接收器(1-4)、3个基板(1-5)和3根柱子(1-6),物镜(1-1)和CMOS阵列接收器(1-4)分别固定在基板(1-5)上,3根柱子(1-6)用于固定基板(1-5),保证基本单元(1)的刚度,每个基本单元(1)的物镜(1-1)都朝向主天线顶部,两个相邻基本单元(1)的主轴之间的角度为15º。

2.根据权利要求1所述一种测量射电望远镜主天线的反射面连接点变形的阵列光电系统,其特征在于:所述每一个主天线反射面连接点是相近的4块反射面相交而成的连接点,每个连接点上固定一个红外激光光源作为瞄准目标,红外激光光源发出的激光束经物镜聚焦在相应CMOS接收器的焦平面上。

3.根据权利要求1或2所述一种测量射电望远镜主天线的反射面连接点变形的阵列光电系统,其特征在于:还包括振动器(4)和两个光学瞄准器,其中光学瞄准器B(5-2)安装在振动器(4)上,光学瞄准器A(5-1)固定在主天线上,振动器(4)也固定在主天线上。

4.根据权利要求 1或2所述一种测量射电望远镜主天线的反射面连接点变形的阵列光电系统,其特征在于:所述CMOS阵列接收器(1-4)由19个CMOS接收器组成,或由5个CMOS接收器组成。

5.根据权利要求3所述一种测量射电望远镜主天线的反射面连接点变形的阵列光电系统,其特征在于:利用所述振动器(4)微振动引起的变形来模拟主天线反射面连接点的变形,安装在振动器(4)上的光学瞄准器B(5-2),通过检测红外激光束成像的偏移来测量振动器(4)的变形;光学瞄准具A(5-1)是固定的,用于监测空气的稳定性。