1.一种覆切削液的工件表面微观形貌测量装置，其特征是：包括激光器(1)、准直透镜(2)、激光耦合器(3)、透镜Ⅰ(4)、透镜Ⅱ(5)、透镜Ⅲ(6)、Y形光纤(7)、光纤耦合器(8)、光谱仪(9)、长波通滤波片(10)、计算机(11)、X轴运动台(13)、Y轴运动台(14)、Z轴运动台(15)以及运动控制器(16)，所述激光器(1)出射光束进入准直透镜(2)进行准直后，经激光耦合器(3)耦合并通过Y形光纤(7)进入光纤耦合器(8)输出激光，激光通过由透镜Ⅰ(4)和透镜Ⅱ(5)组成的光纤共焦光路，聚焦于工件样品(12)表面，样品(12)的表面覆有切削液，切削液经激光照射激发出荧光，荧光经光纤共焦光路和光纤耦合器(8)返回Y形光纤(7)，经透镜Ⅲ(6)进行聚焦，经长波通滤波片(10)滤除激光波长后，进入光谱仪(9)；所述光谱仪(9)与计算机(11)连接；所述X轴运动台(13)与Y轴运动台(14)连接，Y轴运动台(14)与Z轴运动台(15)连接，且X轴运动台(13)、Y轴运动台(14)以及Z轴运动台(15)均通过连接线与运动控制器(16)连接；所述运动控制器(16)与计算机(11)连接。

2.根据权利要求1所述的一种覆切削液的工件表面微观形貌测量装置，其特征是：所述激光器(1)为半导体激光器。

3.根据权利要求1所述的一种覆切削液的工件表面微观形貌测量装置，其特征是：所述Y轴运动台(14)和Z轴运动台(15)均为运动精度为纳米分辨率的运动台。

4.一种覆切削液的工件表面微观形貌测量方法，其特征是：应用权利要求1所述的一种覆切削液的工件表面微观形貌测量装置，包括以下步骤，且以下步骤顺次进行，步骤一、通过计算机(11)向运动控制器(16)发送运动指令信号，控制X轴运动台(13)和Y轴运动台(14)移动至样品(12)的表面采样点处，控制Z轴运动台(15)移动至初始Z向位置；

步骤二、打开激光器(1)和光谱仪(9)、通过计算机(11)向运动控制器(16)发送运动指令信号，控制Z轴运动台(15)进行Z向扫描，计算机(11)采集光谱仪(9)传输的荧光光谱检测信号，并记录激光焦点到切削液表面的Z向位置和激光焦点到切削液与工件交界面的Z向位置；

步骤三、通过所述步骤二光谱仪(9)采集的荧光光谱检测信号计算切削液厚度dm；

步骤四、通过所述步骤三获得的切削液厚度，计算实际样品(12)表面切削液厚度dr；

步骤五、通过步骤二记录的Z向位置和步骤三计算获得的切削液厚度，计算采样点的相对高度；

步骤六、重复步骤一到步骤五，完成样品(12)表面所有采样点的高度计算，建立样品(12)表面的高度矩阵图；

步骤七、对步骤六获得的工件表面的高度矩阵图做插值计算，获得样品(12)表面微观形貌图。

5.根据权利要求4所述的一种覆切削液的工件表面微观形貌测量方法，其特征是：所述步骤四中计算实际样品(12)表面切削液厚度dr的计算方法为，其中，n1为大气折射率，n2为切削液折射率。

6.根据权利要求4所述的一种覆切削液的工件表面微观形貌测量方法，其特征是：所述步骤七中的插值计算法为立方插值计算方法。