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专利号: 2019103285015
申请人: 新昌浙江工业大学科学技术研究院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2023-12-11
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.圆柱滚子全表面瑕疵检测方法,其特征在于:实现该方法的检测装置包括并排设置的第一传送带输送装置和第二传送带输送装置,以及设于第一传送带输送装置和第二传送带输送装置之间的升降滚动装置;所述第一传送带输送装置的两侧各设有1台用于检测端面及其倒角面的CMOS面阵拍摄相机,两台CMOS面阵拍摄相机错位设置;所述升降滚动装置的上方设有用于检测柱面的CCD线阵拍摄相机;

所述升降滚动装置包括主机架、副机架以及架设在主机架和副机架上的主动滚辊和从动滚辊;所述主机架上并排设有A1滑台模组和B1滑台模组,对应的,所述副机架上并排设有A2滑台模组和B2滑台模组;

所述A1滑台模组的滑块上通过A连接块固定安装伺服电机,所述A2滑台模组的滑块与A滚辊安装块固联,主动滚辊的一端与伺服电机的输出轴传动连接,另一端与A滚辊安装块通过轴承联接;对应的,所述B1滑台模组的滑块与B连接块固联,所述B2滑台模组的滑块与B滚辊安装块固联,所述从动滚辊的一端与B连接块通过轴承联接,另一端与B滚辊安装块通过轴承联接;

所述主动滚辊和从动滚辊上均设有传动齿,主动滚辊和从动滚辊通过设于两者之间的过渡齿轮传动联接,所述过渡齿轮设于安装于主机架上的转轴上;

检测时,第一传送带输送装置与第二传送带输送装置的传动方向相同;所述主动滚辊和从动滚辊的半径相同,且与待检测的圆柱滚子半径相同;

检测时,CMOS面阵拍摄相机、CCD线阵拍摄相机、第一传送带输送装置、第二传送带输送装置,以及升降滚动装置与计算机连接,由计算机控制它们的工作;

检测时,具体步骤为:

①将圆柱滚子横放于第一传送带输送装置上并随之移动,在圆柱滚子移动至两台CMOS面阵拍摄相机的下方时,分别完成对圆柱滚子的两个端面及其倒角面的图像采集,并送给计算机,由计算机判断是否存在瑕疵,完成两端面的检测;

②圆柱滚子被传送至第一传送带输送装置末端时,主动滚辊停转,主动滚辊和从动滚辊下降至第一传送带输送装置的上表面高度以下,圆柱滚子滚落到主动滚辊和从动滚辊的之间,然后主动滚辊和从动滚辊上升复位;

③主动滚辊重启转动,圆柱滚子在滚动摩擦力的带动下转动,CCD线阵拍摄相机对圆柱滚子的柱面进行采集图像,待圆柱滚子转动至少1周后,主动滚辊停转,CCD线阵拍摄相机完成对圆柱滚子柱面的图像采集,并送给计算机,由计算机判断是否存在瑕疵,完成柱面的检测;

④主动滚辊停转后,从动滚辊下降,圆柱滚子滚落至第二传送带输送装置上,由第二传送带输送装置输送至分拣区,对合格的产品进行打包入库,并对瑕疵品进行集中存放,同时,主动滚辊下降,第一传送带输送装置将另一个待检测的圆柱滚子输送至主动滚辊和从动滚辊之间,然后主动滚辊和从动滚辊一起复位,并重复步骤③至步骤④的动作。

2.根据权利要求1所述的圆柱滚子全表面瑕疵检测方法,其特征在于:所述伺服电机上设有减速器,所述减速器为行星减速器。

3.根据权利要求1所述的圆柱滚子全表面瑕疵检测方法,其特征在于:两台用于检测端面及其倒角面的CMOS面阵拍摄相机安装于可调节高度的支架上;用于检测圆柱面的CCD线阵拍摄相机安装于固定设置的横梁上。

4.根据权利要求1所述的圆柱滚子全表面瑕疵检测方法,其特征在于:所述第一传送带输送装置与第二传送带输送装置的表面材料为棉帆布、尼龙或PVC。

5.根据权利要求1所述的圆柱滚子全表面瑕疵检测方法,其特征在于:步骤①中,如果检测结果显示圆柱滚子的端面存在瑕疵,在圆柱滚子到达第一传送带输送装置末端后直接取走,不参与后续检测。

6.根据权利要求5所述的圆柱滚子全表面瑕疵检测方法,其特征在于:所述主动滚辊和从动滚辊由摩擦材料制成。

7.根据权利要求1‑6任一权利要求所述的圆柱滚子全表面瑕疵检测方法,其特征在于:步骤③中,圆柱滚子在主动滚辊和从动滚辊上转动1.5周。

8.根据权利要求7所述的圆柱滚子全表面瑕疵检测方法,其特征在于:所述主动滚辊转动的角速度为60°/s。

9.根据权利要求1‑6任一权利要求所述的圆柱滚子全表面瑕疵检测方法,其特征在于:所述第一传送带输送装置上间隔设有一组用于放置圆柱滚子的定位标识槽。

10.根据权利要求1‑6任一权利要求所述的圆柱滚子全表面瑕疵检测方法,其特征在于:在第一传送带输送装置的末端具有1个待检测圆柱滚子时,第一传送带输送装置停止运转,防止圆柱滚子堆积,同时,停止向第一传送带输送装置中放置新的待检测圆柱滚子。