1.高精度测量的双显定长检测仪，其特征在于，其包括调整装置、测量对比装置，测量对比装置用于对物件进行尺寸测量或为大批量物件提供对比参照作用，调整装置用于调整测量对比装置的伸长量；

所述的调整装置包括粗调机构、微调机构、显示机构，粗调机构用于快速粗略调整测量对比装置的伸长量，微调机构用于微调测量对比装置的伸长量并提高其测量/对比精度，显示机构用于显示粗调机构与微调机构的调整数据。

2.根据权利要求1所述的高精度测量的双显定长检测仪，其特征在于，所述的显示机构包括安装外壳、显示盘，安装外壳为两端开口的壳体结构，显示盘固定安装于安装外壳外表面，安装外壳上开设有穿设孔a，且显示盘上开设有与穿设孔a同轴布置的穿设孔b。

3.根据权利要求1或2所述的高精度测量的双显定长检测仪，其特征在于，所述的粗调机构包括用于被使用者粗调转动的粗调转筒、用于传递并显示粗调结果数据的粗调显示构件；

所述的粗调转筒为由两组呈半圆柱筒体的粗调转壳构成的圆柱筒体结构，且粗调转筒两端开口，粗调转筒的一开口端与安装外壳的一开口端之间活动安装，且粗调转筒可绕自身轴向转动。

4.根据权利要求3所述的高精度测量的双显定长检测仪，其特征在于，所述的粗调显示构件包括粗调齿圈、中间齿轮a、齿轮轴a，粗调齿圈与粗调转筒之间设置有固定件且两者之间通过固定件进行同轴固定连接，齿轮轴a轴向平行于粗调转筒轴向，齿轮轴a活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，中间齿轮a固定套接于齿轮轴a外部并与粗调齿圈啮合；

所述的粗调显示构件还包括中间蜗杆、中间涡轮、齿轮轴b，中间蜗杆与齿轮轴a之间同轴固定连接，齿轮轴b轴向垂直于粗调转筒轴向，齿轮轴b活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，中间涡轮固定套接于齿轮轴b外部并与中间蜗杆啮合。

5.根据权利要求4所述的高精度测量的双显定长检测仪，其特征在于，所述的粗调显示构件还包括中间齿轮b、粗调齿轮、粗调转轴，中间齿轮b固定套接于齿轮轴b外部，粗调转轴轴向平行于齿轮轴b轴向，粗调转轴活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，且粗调转轴的一端穿过穿设孔a、穿设孔b并位于显示盘背离安装外壳的一侧，并且该端设置有粗调指针，粗调齿轮固定套接于粗调转轴外部并与中间齿轮b啮合。

6.根据权利要求4所述的高精度测量的双显定长检测仪，其特征在于，所述的微调机构设置于粗调机构背离安装外壳的一侧，微调机构包括用于被使用者微调转动的微调转筒、用于传递并显示微调结果数据的微调显示构件；

所述的微调转筒为由两组成半圆柱筒体的微调转壳构成的圆柱筒体结构，且微调转筒两端开口，微调转筒的一开口端与粗调转筒背离安装外壳的开口端之间同轴活动连接，且微调转筒可绕自身轴向转动。

7.根据权利要求6所述的高精度测量的双显定长检测仪，其特征在于，所述的微调显示构件包括传递蜗杆、传递涡轮、齿轮轴c，传递蜗杆与微调转筒同轴布置，传递蜗杆的一端位于安装外壳内、另一端与微调转筒背离粗调转筒的开口端之间以键连接方式进行动力连接传递，齿轮轴c轴向平行于粗调转轴轴向，齿轮轴c活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，传递涡轮固定套接于齿轮轴c外部并与传递蜗杆啮合；

所述的微调显示构件还包括传递齿轮a、传递齿轮b、齿轮轴d，齿轮轴d的轴向平行于粗调转轴轴向，齿轮轴d活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动，传递齿轮a固定套接于齿轮轴c外部，传递齿轮b固定套接于齿轮轴d外部并与传递齿轮a啮合；

所述的微调显示构件还包括传递齿轮c、微调齿轮、微调转轴，微调转轴为环形柱体结构，微调转轴同轴活动套设于粗调转轴外部且两者各自转动互不干涉，微调转轴的一端穿过穿设孔a、穿设孔b并位于显示盘背离安装外壳的一侧，且该端设置有微调指针，传递齿轮c固定套接于齿轮轴d外部，微调齿轮固定套接于微调转轴外部并与传递齿轮c啮合。

8.根据权利要求7所述的高精度测量的双显定长检测仪，其特征在于，所述的测量对比装置包括用于与物件接触并提供参照作用的参照盘、用于根据粗调机构的粗调数据改变自身与参照盘之间距离的粗调同步机构、用于根据微调机构的微调数据改变粗调同步机构与参照盘之间距离的微调同步机构；

所述的参照盘为环形柱体结构，且参照盘与粗调转筒同轴布置，参照盘固定安装于安装外壳背离粗调转筒的开口端，参照盘背离安装外壳的一端设置有参照台阶。

9.根据权利要求8所述的高精度测量的双显定长检测仪，其特征在于，所述的粗调同步机构包括粗调螺旋套、测量轴，测量轴为环形柱体结构，测量轴同轴活动套接于传递蜗杆外部，且测量轴上开设有用于传递蜗杆与传递涡轮之间啮合的避让孔；

所述的测量轴与安装外壳之间设置有导向部件一，导向部件一为设置于安装外壳内部的导向凸起一、设置于测量轴外部的导向孔一，导向凸起一与导向孔一之间构成引导方向平行于测量轴轴向的滑动导向配合；

所述的测量轴背离微调机构的一端设置有参照块，参照块位于参照盘内，且参照块背离微调机构的侧面与设置于参照盘的参照台阶位于同一平面内，参照块与参照盘之间构成滑动导向配合；

所述的粗调螺旋套为环形柱体结构，且粗调螺旋套同轴套设于测量轴外部，测量轴与粗调螺旋套之间设置有螺纹件一且两者之间通过螺纹件一进行连接，螺纹件一包括设置于粗调螺旋套内部的内螺纹一、设置于测量轴外部的外螺纹一；

所述的粗调螺旋套与粗调转筒之间设置有导向部件二，导向部件二包括设置于粗调转筒内部的导向凸起二、设置于粗调螺旋套外部的导向孔二，导向凸起二与导向孔二之间构成引导方向平行于粗调螺旋套轴向的滑动导向配合；

所述的粗调螺旋套朝向微调机构的端部与微调同步机构连接。

10.根据权利要求9所述的高精度测量的双显定长检测仪，其特征在于，所述的微调同步机构设置于微调转筒内，微调同步机构包括微调螺旋套、连动套，连动套为环形柱体结构，连动套与粗调螺旋套之间设置有连接件且两者之间通过连接件进行同轴连接，连接件为半环形柱体结构，连接件的一端与粗调螺旋套同轴固定、另一端位于粗调螺旋套朝向连动套的一侧且该端设置有内置台阶，连接件设置有两组且关于粗调螺旋套轴向呈对称分布，两组内置台阶与粗调螺旋套之间的区域为连接区，连动套的一端位于连接区内且该端设置有外置台阶，外置台阶与连接区之间构成转动配合，粗调螺旋套转动不受连动套干涉；

所述的连动套还同轴套接于测量轴外部，连动套与测量轴之间设置有导向部件三，导向部件三包括设置于连动套内部的导向凸起三、设置于测量轴外部的导向孔三，导向凸起三与导向孔三之间构成引导方向平行于测量轴轴向的滑动导向配合；

所述的微调螺旋套为环形柱体结构，微调螺旋套与连动套之间设置有螺纹件二且两者之间通过螺纹件二进行连接，螺纹件二包括设置于微调螺旋套内部的内螺纹二、设置于连动套外部的外螺纹二；

所述的微调螺旋套还同轴固定安装于微调转筒内。