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专利号: 2019103999509
申请人: 舟山市宏基工业产品设计研究所
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-28
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种定点取样装置,其特征在于,包括:

箱体(4),所述箱体(4)的两侧固定安装门字框(3);

箱盖(7),所述箱盖(7)铰接在所述箱体(4)的顶部,与所述箱体(4)形成密闭的取样室(5),所述箱盖(7)相对于所述取样室(5)的外侧加工有长槽(71),所述箱盖(7)相对于所述取样室(5)的内侧安装有磁体(8);

长杆(2),所述长杆(2)置于所述门字框(3)内,所述长杆(2)上端固定小轴(6),所述小轴(6)活动嵌合在所述长槽(71)内,所述长杆(2)上具有上凸肩(21)和下凸肩(22),所述长杆(2)可上下活动;

重块(1),所述重块(1)位于所述上凸肩与所述下凸肩之间;

量尺及放空绳,所述量尺与所述箱体(4)连接,用于将所述箱体(4)沉入一定深度,所述放空绳与所述箱体(4)的底部连接,用于将所述箱体(4)翻转。

2.根据权利要求1所述的一种定点取样装置,其特征在于:所述箱体(4)由导磁材料制成。

3.根据权利要求1所述的一种定点取样装置,其特征在于:所述量尺及所述放空绳上装有滤器。

4.根据权利要求1所述的一种定点取样装置,其特征在于:所述箱盖(7)为薄片状盖板。